因業(yè)務(wù)調(diào)整，部分個(gè)人測(cè)試暫不接受委托，望見(jiàn)諒。

檢測(cè)項(xiàng)目

礦物組成分析、主量元素測(cè)定、微量元素測(cè)定、稀土元素配分模式、鉑族元素豐度、揮發(fā)性元素含量、氧逸度計(jì)算、硫化物物相鑒定、硅酸鹽熔體包裹體成分、水含量及賦存狀態(tài)、氫同位素比值(δD)、碳同位素比值(δC)、氧同位素比值(δ?O)、氮同位素比值(δ?N)、硫同位素比值(δ?S)、氦-氖-氬稀有氣體豐度與同位素、宇宙成因核素(如?Be,?Al,?Cl)、放射成因同位素定年(U-Pb,Sm-Nd,Rb-Sr,K-Ar)、太陽(yáng)風(fēng)注入成分表征、磁性礦物矯頑力譜分析、納米鐵顆粒豐度統(tǒng)計(jì)、玻璃質(zhì)相比例測(cè)定、沖擊變質(zhì)特征識(shí)別、空間風(fēng)化產(chǎn)物厚度測(cè)量、反射光譜特性(0.3-3μm)、熱釋光特性曲線、介電常數(shù)測(cè)定、密度與孔隙率計(jì)算、抗壓強(qiáng)度測(cè)試、微觀形貌三維重構(gòu)

檢測(cè)范圍

月球玄武巖巖屑、高地斜長(zhǎng)巖碎塊、克里普巖(KREEP)顆粒、月壤細(xì)粒組分(<1mm)、角礫巖膠結(jié)物、隕硫鐵結(jié)核體、火山玻璃珠、沖擊熔融玻璃球粒、太陽(yáng)風(fēng)輻照表層顆粒(<100nm深度)、月海鈦鐵礦富集區(qū)樣品、輝石橄欖巖包體、斜長(zhǎng)石單礦物解理面、輝石環(huán)帶結(jié)構(gòu)剖面、鈦鐵礦出溶片晶區(qū)域、隕石坑濺射物層序剖面模擬樣、模擬月壤標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)(JSC-1A,CAS-1)、阿波羅計(jì)劃月巖鉆孔巖芯(100XX系列)、月球隕石(如NWA5000,Dhofar025)、火星隕石(SNC族,如ALH84001)、灶神星HED族隕石(如Juvinas)、碳質(zhì)球粒隕石(CI,CM型)、頑輝石球粒隕石(EC)、小行星Itokawa粒子(隼鳥(niǎo)號(hào)返回樣)、彗星塵埃(星塵號(hào)采集Wild2樣)、星際塵埃收集器捕獲顆粒

檢測(cè)方法

X射線衍射(XRD)用于全巖礦物半定量分析及晶體結(jié)構(gòu)精修，依據(jù)布拉格衍射角解析物相組成。

電子探針顯微分析儀(EPMA)實(shí)現(xiàn)微米尺度主量元素面分布制圖，采用波長(zhǎng)色散譜儀(WDS)確保Na-U元素定量精度優(yōu)于1%。

激光剝蝕電感耦合等離子體質(zhì)譜(LA-ICP-MS)對(duì)薄片樣品進(jìn)行原位微量元素分析，空間分辨率達(dá)10μm，檢出限低至ppb級(jí)。

二次離子質(zhì)譜(SIMS)進(jìn)行亞微米級(jí)同位素成像，通過(guò)O?/Cs?一次束轟擊獲取H-C-O-S同位素深度剖面數(shù)據(jù)。

稀有氣體質(zhì)譜儀(NGMS)采用分步加熱技術(shù)釋放捕獲氣體，通過(guò)磁扇型質(zhì)譜計(jì)測(cè)定He/Ne/Ar/Kr/Xe同位素組成。

透射電子顯微鏡(TEM)結(jié)合選區(qū)電子衍射(SAED)解析納米級(jí)空間風(fēng)化產(chǎn)物晶體結(jié)構(gòu)特征。

傅里葉變換紅外光譜(FTIR)測(cè)定結(jié)構(gòu)水含量及賦存狀態(tài)，依據(jù)3400cm?吸收峰強(qiáng)度定量羥基濃度。

加速器質(zhì)譜(AMS)分析宇宙成因核素豐度，通過(guò)電荷剝離與粒子鑒別技術(shù)實(shí)現(xiàn)?Be/?Al等高靈敏度測(cè)量。

穆斯堡爾譜儀測(cè)定鐵價(jià)態(tài)分布及磁性相比例，利用γ射線共振吸收原理識(shí)別納米級(jí)單質(zhì)鐵顆粒。

聚焦離子束-掃描電鏡(FIB-SEM)聯(lián)用系統(tǒng)制備微區(qū)透射樣品并重構(gòu)三維孔隙網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)。

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)

ISO23420:2021微束分析-電子探針顯微分析(EPMA)-術(shù)語(yǔ)與規(guī)范

ASTME1587-17激光燒蝕電感耦合等離子體質(zhì)譜法(LA-ICP-MS)標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法

GB/T17412.1-2012巖石分類和命名方案火成巖分類

ISO20565-3:2008含鉻耐火材料化學(xué)分析-X射線熒光光譜法測(cè)定主成分

JJG2096-2017同位素豐度測(cè)量質(zhì)譜儀檢定規(guī)程

ASTMD7928-21使用TGA-FTIR聯(lián)用技術(shù)測(cè)定材料中揮發(fā)物的標(biāo)準(zhǔn)方法

GB/T14506.30-2010硅酸鹽巖石化學(xué)分析方法X射線熒光光譜法測(cè)定主次量元素

ISO18589-4:2019環(huán)境放射性測(cè)量-土壤中放射性核素的γ能譜分析方法

ASTME3061-17掃描電子顯微鏡操作的標(biāo)準(zhǔn)指南

GB/T36082-2018納米技術(shù)納米粉體材料測(cè)試參考物質(zhì)規(guī)范

檢測(cè)儀器

場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡(FE-SEM)配備能譜儀(EDS)，實(shí)現(xiàn)亞微米級(jí)形貌觀察與元素定性定量分析，工作電壓范圍0.1-30kV可調(diào)。

高分辨率透射電子顯微鏡(HRTEM)配備球差校正器，點(diǎn)分辨率達(dá)0.07nm，用于觀察空間風(fēng)化非晶層原子排列特征。

多接收器電感耦合等離子體質(zhì)譜儀(MC-ICP-MS)采用法拉第杯與離子計(jì)數(shù)器陣列，實(shí)現(xiàn)Sr/Nd/Hf/Pb等同位素比值高精度測(cè)定（內(nèi)部精度<0.001%）。

納米二次離子探針(NanoSIMS)具備50nm空間分辨率與ppm級(jí)檢出限，可同步獲取7種元素面分布圖像。

顯微共焦拉曼光譜儀配置532nm/785nm雙激光源，光譜分辨率1cm?，用于原位鑒定礦物相及碳質(zhì)物結(jié)構(gòu)特征。

高真空步進(jìn)加熱稀有氣體質(zhì)譜系統(tǒng)配備全金屬提取線，本底值低至10??ccSTPHe，溫度控制范圍25-1800℃。

飛秒激光剝蝕系統(tǒng)耦合TOF-ICP-MS，脈沖寬度<150fs實(shí)現(xiàn)近無(wú)分餾剝蝕，適用于揮發(fā)性元素（如Cl,S）的原位分析。

同步輻射X射線熒光微探針(SR-XRF)利用第三代光源的高通量特性，實(shí)現(xiàn)ppb級(jí)微量元素二維分布制圖。

振動(dòng)樣品磁強(qiáng)計(jì)(VSM)配備10K-1000K變溫系統(tǒng)與3T磁場(chǎng)強(qiáng)度模塊，用于表征月壤亞鐵磁性特征。

顯微傅里葉變換紅外光譜(Micro-FTIR)配置液氮冷卻MCT探測(cè)器與15倍物鏡，空間分辨率達(dá)5μm適用于單顆粒分析。

檢測(cè)流程

1、咨詢：提品資料(說(shuō)明書(shū)、規(guī)格書(shū)等)

2、確認(rèn)檢測(cè)用途及項(xiàng)目要求

3、填寫(xiě)檢測(cè)申請(qǐng)表(含公司信息及產(chǎn)品必要信息)

4、按要求寄送樣品(部分可上門(mén)取樣/檢測(cè))

5、收到樣品，安排費(fèi)用后進(jìn)行樣品檢測(cè)

6、檢測(cè)出相關(guān)數(shù)據(jù)，編寫(xiě)報(bào)告草件，確認(rèn)信息是否無(wú)誤

7、確認(rèn)完畢后出具報(bào)告正式件

8、寄送報(bào)告原件