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微區(qū)X熒光能譜儀M4M6

點(diǎn)擊圖片查看原圖
 
品牌: 布魯克
單價(jià): 面議
起訂:
供貨總量:
發(fā)貨期限: 自買家付款之日起 3 天內(nèi)發(fā)貨
所在地: 上海
有效期至: 長(zhǎng)期有效
最后更新: 2017-12-22 09:36
瀏覽次數(shù): 722
詢價(jià)
 
公司基本資料信息
詳細(xì)說明
 微聚焦熒光光譜儀 M6 JETSTREAM

    布魯克推出了新型微聚焦XRF—M6 JETSTREAM。M6 JETSTREAM是布魯克針對(duì)大樣品原位無損分析而開發(fā)的新產(chǎn)品。可移動(dòng)設(shè)計(jì)使得用戶可以隨意將M6 JETSTREAM移動(dòng)到自己感興趣的樣品前進(jìn)行分析,比如畫廊、博物館或者工作現(xiàn)場(chǎng)。M6 JETSTREAM可以實(shí)現(xiàn)800mmx600mm的大面積掃描,微束斑的直徑可低至100μm,掃描速度可達(dá)100mm/s。

 

 
M6 JETSTREAM特色應(yīng)用領(lǐng)域:
文物分析——能夠現(xiàn)場(chǎng)原位分析樣品,使用戶免去了搬運(yùn)樣品的麻煩,同時(shí)避免了在搬運(yùn)中對(duì)文物可能造成的損壞。

 

地球科學(xué)——可分析大鉆芯樣或者其他礦物樣品。

 

故障分析——可用于大部件樣品的缺陷篩查、不均勻性分析,以及其他感興趣的問題。

M6 JETSTREAM用于文物樣品檢測(cè)
主要特點(diǎn):
1.M6 JETSTREAM不僅可以分析水平放置的樣品,還可以分析垂直放置的樣品。
2.在高激發(fā)強(qiáng)度以及樣品臺(tái)的快速移動(dòng)情況下,仍可實(shí)現(xiàn)快速檢測(cè)。
3.M6 JETSTREAM的光斑大小可以在5步之內(nèi),根據(jù)樣品結(jié)構(gòu)及所需空間分辨率調(diào)整到相應(yīng)的尺寸。
4.采用布魯克先進(jìn)的XFlash®硅漂移探測(cè)器,該探測(cè)器具有很高的計(jì)數(shù)率能力,在很寬的計(jì)數(shù)率范圍內(nèi)擁有最佳的能量分辨率。
5.特別的安全電路為用戶提供最佳的X射線輻射風(fēng)險(xiǎn)防范措施。
6.超聲波測(cè)距措施可以防止儀器與被測(cè)樣品發(fā)生碰撞。
7.由于M6 JETSTREAM的可移動(dòng)性,不論樣品結(jié)構(gòu)如何,它都可以很容易的準(zhǔn)確定位。另外,M6 JETSTREAM可以很方便的拆卸成四部分,使其便于攜帶。

 

 

 

 

X射線熒光能譜儀M4 TORNADO

儀器簡(jiǎn)介
   微區(qū)X射線熒光光譜分析技術(shù)是對(duì)不均勻樣品、不規(guī)則樣品、甚至小件樣品和包裹物進(jìn)行高靈敏度的、非破壞性的元素分析的首選方法。采用多導(dǎo)毛細(xì)管聚焦鏡將激 發(fā)光聚焦到非常小的區(qū)域,以獲得極佳的空間分辨率,進(jìn)行快速分析。任何類型的樣品都可以通過簡(jiǎn)單的樣品制備甚至不制備直接進(jìn)行分析。

測(cè)定鍍層樣品厚度及成分

   采用X射線熒光技術(shù)的M4可以分析薄鍍層樣品,如印刷電路板、金屬或塑料件,包括單層鍍層和多層鍍層。XSpect軟件采用無標(biāo)樣基本參數(shù)法,可以同時(shí)計(jì)算鍍層厚度和鍍層組成。使用標(biāo)準(zhǔn)樣品進(jìn)一步提高定量分析的準(zhǔn)確性

RoHS檢測(cè)

    測(cè)量一個(gè)PCB樣品。u安蘇的面分布圖顯示了下列元素的分布情況:Br(綠色)、Cu(紅色)、Au(黃色)、Pb(白色)和Sn(粉紅色)

圖像的原始大?。?50×75像素

測(cè)量時(shí)間:0.15s/像素

 

主要特點(diǎn):
  M4 TORNADO采用了全新的技術(shù),為各種用戶提供了最佳的分析性能和非常方便的操控性。
  采用多導(dǎo)毛細(xì)管聚焦鏡,照射光斑最小,空間分辨率最高。
  渦輪增速X-Y-Z樣品臺(tái),借助放大倍數(shù)可變的攝像系統(tǒng)獲得高品質(zhì)的樣品影像,可在“飛行中”進(jìn)行元素分布分析。

  高強(qiáng)度的X射線光管與多導(dǎo)毛細(xì)管聚焦鏡相結(jié)合,確保在非常小的照射區(qū)域內(nèi)獲得非常高的激發(fā)強(qiáng)度。采用濾光片和可以同時(shí)使用的配有不同靶材的雙光管,可以根據(jù)不同的分析要求,優(yōu)化激發(fā)光譜。
  使用XFlash®探測(cè)器超高速地獲取樣品圖譜,另外,使用多個(gè)探測(cè)器可以進(jìn)一步提高測(cè)量速度。
采用無標(biāo)樣分析法精確定量分析塊狀樣品,精確分析多層膜樣品。

  可抽真空的樣品室配有自動(dòng)門,大尺寸的樣品室可以放置各種尺寸的樣品。通過兩個(gè)放大倍數(shù)可變的攝像系統(tǒng)觀察樣品(整體觀察和分析區(qū)域的細(xì)致觀察),便捷進(jìn)樣功能和自動(dòng)對(duì)焦功能可以進(jìn)行快速而精確的定位。通過用戶編輯的X-Y-Z樣品臺(tái)運(yùn)行程序可實(shí)現(xiàn)重復(fù)測(cè)量。

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