用途：
GPJ-300高倍硅片檢測顯微鏡適用于對不透明物體進行顯微觀察。儀器配置落射照明 、長距平場消色差物鏡、大視野目鏡，圖像清晰、襯度好，同時還配有內置偏光觀察裝置。本儀器可用于鑒別和分析各種金屬和合金材料及非金屬物質的組織結構，廣泛應用于電子、化工和儀器儀表行業(yè)觀察不透明的物質。如金屬太陽能板、多晶硅、單晶硅、太陽能硅片檢測測、集成電路、電子芯片、電路板、液晶板、鍍涂層，及其它非金屬材料，對一些表面狀況進行研究分析的工作等。本儀器系大專院校，科研機構，工廠等的理想儀器。
系統(tǒng)組成簡介：
GPJ-300電腦高倍硅片檢測測顯微鏡 GPJ-300S數碼型高倍硅片檢測顯微鏡成像系統(tǒng)是通過光電轉換與計算機，數碼相機以及電視機等設備結合在一起，不僅可以在目鏡上觀察，還能在顯示屏幕上觀察實時動態(tài)圖像，還可在計算機，數碼相機上將所需要的圖片進行編輯、保存和打印。
性能特點：
l 配置大視野目鏡和長距平場消色差物鏡，視場大而清晰。
l 粗微動同軸調焦機構，粗動松緊可調，微動格值:2μm。
l 帶限位鎖緊裝置
l 6V 20W鹵素燈,亮度可調。
l 三目鏡筒,可自由切換正常觀察，可進行100%透光攝影
技術參數：
平場目鏡
放大倍數(X)
視場(mm)
10X
Φ18
平場消
色差物鏡
放大倍數（X）
數值孔徑
工作距離（mm）
5X
0.12
18.3
10X
0.25
8.9
40X
0.60
3.7
60X
0.85
0.26
光學放大倍數
50X 100X 400X 600X
系統(tǒng)參考放大倍數
50X-3000X
目鏡筒
三目鏡,傾斜30? 瞳距調節(jié)范圍：53-75mm
照明系統(tǒng)
落射照明器，6V/20W鹵素燈，220V（50Hz）亮度可調具
偏光裝置
三目頭內置檢偏振， 可插入式起偏振片,垂直照明裝置，
調焦機構
粗微動同軸調焦,粗動松緊可調,帶鎖緊和限位裝置 微動格值:0.002mm。
轉換器
四孔(內向式滾珠內定位
濾色片組
黃色、藍色、綠色、磨砂玻璃
載物臺移動范圍
X方向：75mm ； Y方向50mm
儀器選配件：
l 目鏡：5X 20X 10X分劃
l 物鏡：20X 50X 80X 100X（油）
l 動態(tài)檢測軟件GM-2000V
l 二維圖像測量軟件GM—2000M