本資料屬于上海璟瑞科學(xué)儀器以下公式起草資料http://www.jryiqi.com/prodetail-2779505.html

一、eva交聯(lián)度測試儀器與試劑
儀器:

1、大口圓底燒瓶及塞子。用磨口或軟木塞連接。如進(jìn)行1~2只樣品測定以500mL為宜；如進(jìn)行2~3只樣品測定以1000mL 為宜；如進(jìn)行數(shù)只但不超過6只則以2000mL的燒瓶較為適用。
2、加熱套或恒溫油槽。要求熱容量足以加沸二甲苯（沸點為135~144°C）。
3、回流冷凝管。帶磨口或以軟木塞和燒瓶連接，冷凝管磨口尺寸與圓底燒瓶的磨口尺寸一致，長度適當(dāng)。
4、支架和夾子。用于固定燒瓶和冷凝管。
5、真空烘箱。附帶能產(chǎn)生0.87MPa真空度的真空源。
6、120目不銹鋼網(wǎng)
7、精度為1/10000的托盤電子分析天平。
8、干燥器
試劑
1、二甲苯A.R，分析純或化學(xué)純。
2、2，6-二叔丁基-4-甲基苯酚（即抗氧劑264）。
二、實驗方法
分析步驟
1、不銹鋼網(wǎng)袋的制作：
先將不銹鋼網(wǎng)洗凈，晾干，放入100℃左右的烘箱烘干，冷卻后截取35×90mm，對折成35×45mm的長方形，兩側(cè)邊折進(jìn)7.5mm釘住，制成頂端開口的袋（尺寸約20×45mm），并且要保證折起的兩邊鋼好能被訂書釘釘住，而且做好的試樣袋要能放入燒瓶，尺寸不能太大。稱重量為（W1）。

2、分析操作
將已交聯(lián)過的EVA膠樣（在不同部位取樣），用剪刀剪成小碎片，在1/10000電子天平式準(zhǔn)確稱取試樣0.1450~0.1500 g準(zhǔn)確到0.0001g，將樣品放入已知重量的120目不銹鋼網(wǎng)袋里，稱（袋和試樣）重（W2）。
＊將袋口折邊釘上，構(gòu)成試樣包，稱（袋和試樣）重（W3）。
＊試樣包用銅絲懸吊在回流裝置的燒瓶中，以二甲苯為溶劑（溶劑要充足，2000mL燒瓶要裝1000g溶劑；1000mL燒瓶要裝500g溶劑）。沸騰回流5h，一般回流速度為20~40滴/分。（為防止試樣的再度交聯(lián)，加入溶劑重量1%左右的抗氧劑）冷卻，取出試樣袋（懸掛起來，以除去過量的溶劑）后，再放入真空烘箱（溫度141±20℃，真空度0.8MPa）中烘3h，取出試樣袋于干燥器內(nèi)冷卻15min，取出稱量（W4）。

3計算
W1：三邊封口一邊開口的袋重。
W2：裝有試樣的袋重（三邊封一邊開口的袋）
W3：裝有試樣封口的袋重
W4：萃取并干燥后的試樣袋重

4、分析與結(jié)果
通過多項實驗，結(jié)果顯示，不銹鋼網(wǎng)袋和未交聯(lián)的EVA樹脂不會影響此分析方法的準(zhǔn)確性。
萃取時間5h后，交聯(lián)度變化不大。
交聯(lián)劑用量增加，EVA的交聯(lián)度也會上升，與實際工藝吻合。

5、結(jié)語
使用此法，分析數(shù)據(jù)平行，不同試樣的分析數(shù)據(jù)符合它的規(guī)律性，能滿足工藝與應(yīng)用上對交聯(lián)度測定的需要，故本法是可行的。
本測定方法同樣適用于聚烯烴及其共聚物的交聯(lián)度測定。
 

 

EVA交聯(lián)度的測試方法一
Define:交聯(lián)度是指EVA分子經(jīng)過交聯(lián)反應(yīng)達(dá)到不溶不熔凝膠固化的程度。
Principle:是將EVA樣品置于二甲苯中萃取，未經(jīng)交聯(lián)的EVA全部溶到二甲苯中，已交聯(lián)的EVA不溶，通過殘留試樣量與試樣總量的比值確定交聯(lián)度。
Equipmentreagent:
1、儀器裝置及器具
磨口圓底燒瓶、回流冷凝管、電加熱油浴、真空烘箱、不銹鋼絲網(wǎng)袋
2、試劑
二甲苯:A.R級、2，6-二叔丁基-4-甲基苯酚（抗氧劑264）
Step：
1、試樣制備
取膠膜一塊,將TPT/膠膜/膠膜/玻璃疊合后,按平時一次固化工藝固化交聯(lián),（或者按廠家工藝要求固化交聯(lián)）將已交聯(lián)好的膠膜剪成小碎片待用.
2、不銹鋼絲網(wǎng)袋（120目）制備
1洗凈，晾干，放入100℃左右的烘箱烘干，冷卻。
2剪取80mm×40mm,對折成40mm正方形,兩側(cè)對折進(jìn)6mm后固定,制成頂端開口的袋。稱重為W1。
3、試驗步驟
1取試樣0.5g±0.01g,放入不銹鋼絲網(wǎng)袋中,稱重為W2。
2封住袋口作成試樣包,并稱重為W3。
3 試樣包用細(xì)銅絲懸吊在回流冷凝管下的燒瓶中,燒瓶內(nèi)加入1/2二甲苯溶劑,加熱到140℃左右,溶劑沸騰回流5h～6h時 ,回流速度保持20滴/分～40滴/分.
4冷卻取出試樣包,懸掛除去溶劑液滴,然后放入真空烘箱內(nèi),溫度控制在140℃,真空度為0.08Mpa,干燥3h,完全除去溶劑.
5將試樣包從真空烘箱內(nèi)取出,放置干燥器中冷卻20min后,取出稱重為W4精確到0.01g
結(jié)果計算      C=[1-（W3-W4）/（W2-W1）]×100  式中:
C—交聯(lián)度%                              W1—空袋重量g
W2—裝有試樣的袋重g              W3—試樣包重g
W4—經(jīng)溶劑萃取和干燥后的試樣包重g
分析與結(jié)果
本標(biāo)準(zhǔn)采用下列定義
3.1
式中
表觀壽命filament life(;、
光電導(dǎo)電壓衰減到初始值的1;。時的時間常數(shù)"(ps)，用公式(1)表Y
△V 二 AV e xp (一 t' r ) ·· ? ，.門 日.時 鉀·· ··· ··· ··· ·? ? ( 1
AV AV光電浮電壓.V;
光電導(dǎo)電壓的峰值或初始值,V:
，-一一時問，“、
r,. 表觀壽命.1-
4 方法提要
4. 1 方法A— 在兩端面為研磨表而并具有歐姆接觸的單一導(dǎo)電類型的半導(dǎo)體單品試樣I通直流電流，用示波器觀察試樣!的電壓降對試樣施一脈沖光，在試樣中產(chǎn)生非平衡少數(shù)載流子，同時觸發(fā)波器掃描。從脈沖光停止起電壓衰減的時間常數(shù)可由示波器掃描測得當(dāng)試樣中電導(dǎo)率調(diào)幅I仁常小日寸，所觀察到的電壓衰減等價于光生載流子的衰減，因此電壓衰減的時間常數(shù)就等于非平衡少數(shù)載流子晨減的時問常數(shù)，少數(shù)載流子壽命即由該時間系數(shù)確定必要時，應(yīng)消除陷阱效應(yīng)和對表向復(fù)合及過址電導(dǎo)率調(diào)幅進(jìn)行修正
4. 2 方法s— 本方法只適用于硅。光源為斬切光而非脈沖光，其他與方法n相同光源波長為
1.0- 1 .1k m本方法需滿足小注入條件以避免過量電導(dǎo)率調(diào)幅的影響。信號進(jìn)入示波器以前可對信號進(jìn)行調(diào)節(jié)，對表面復(fù)合需進(jìn)行修正
本方 法 不 適用于測試條件卜呈十指數(shù)規(guī)律變化信號的試樣
5 意義和用途
本標(biāo) 準(zhǔn) 只 適用于研究、開發(fā)和過程控制，不適用于拋光片的驗收測試對于一般非仲裁性的測試‘可使用本標(biāo)準(zhǔn)的附錄n
6 干擾因素
6.1 陷阱效應(yīng)影響
室溫 卜的 硅和低溫狀況下的鍺，載流子陷阱會產(chǎn)生影響。如果試樣中存在電子或空穴陷阱.脈沖光停止后，非平衡少數(shù)載流子將保持較高濃度并維持相當(dāng)長一段時間，光電導(dǎo)衰減曲線會出現(xiàn)一條民長的尾巴在這段衰減曲線卜進(jìn)行測量將錯誤地導(dǎo)致壽命值增大
6.1.1 沿衰減曲線進(jìn)一步延伸.由高端至低端進(jìn)行測量，若時間常數(shù)增加，可判定存在陷I湃效應(yīng)(消除方法見10.1.9)
6門.2 當(dāng)試樣中陷阱效應(yīng)超過衰減曲線總幅度的s環(huán)(方法A)或衰減曲線呈柞指數(shù)規(guī)律變化時〔方法B)就不能用本方法測量少數(shù)載流子壽命
6.2 表面復(fù)合影響
6.2.1 表面復(fù)合會影響壽命測量，特別是使用小塊試樣時。表3給出了推薦試樣尺寸對應(yīng)的表Iil復(fù)合率.在“計勇”一章中也給出了表面復(fù)合修IF的一般公式當(dāng)試樣表面積與體積之比很大時.吏石必要進(jìn)
行修正
6.2.2 若對表面復(fù)合修正太大，會嚴(yán)重降低測敏的準(zhǔn)確性建漢對測量值的修正不要超過測I,l.俏倒數(shù)的t/z(Pp表觀壽命須大于體壽命的一半，或表面復(fù)合率不大于休壽命的倒數(shù)，見土戶壯公式(1 標(biāo)盯頭形試個刊聽測定的最人體壽命值列于表藝GB/T 1553一1997表3 表而復(fù)合率R材料類型八}ttj 13 類型〔介﹃﹃價口口口樸P型鍺n型鍺p型硅n型0. 032 300.015 750. 011 200.00420
6.3 注入量的影響測量 時 試 樣電導(dǎo)率調(diào)幅必須很小，這樣試樣卜電勢差的衰減才等價于光生載流子的衰減
6.3門方法A:當(dāng)試樣上最大直流電壓調(diào)幅AV,),/V,超過0.01時，允許進(jìn)行修正
6.3.2 方法1i不允許作這種修正此處小注入條件是指在連續(xù)光照F穩(wěn)定存ti -T試樣中1t入的少數(shù)載流子濃度與平衡的多數(shù)載流子濃度之比小于。.加1〔見10.2. 10 )o 若光注人小能降低到小注入值‘試樣就不宜用本方法測量
6.4 光生伏特效應(yīng)影響
試 樣 電 阻率不均勻會產(chǎn)生使衰減信號扭曲的光電壓一一光生伏特效應(yīng)方法八和方法B(見10.1.5和10.2.6)都給出了判定是否存在這種光生電壓的方法在沒有電流通過時就呈現(xiàn)光電壓的試樣不適宜用本方法測量。
6.5 光源波長的影響
光生 載 流 子大幅度衰減會影響曲線的形狀尤其在衰減初期使用脈沖光時，這種現(xiàn)象更為顯著。因為脈沖光源比斬切光源注入的載流子初始濃度一致性差，方法A耍求使用濾光片以增加注入載流子濃度的一致性，并在衰減曲線峰值逐漸減弱之后進(jìn)行測量。
6.6 電場影響
如果 少 數(shù) 載流子被電流產(chǎn)生的電場掃出試祥的一端.少數(shù)載流子就不會形成衰減曲線。因此‘兩種方法都需要用，塊擋光板遮擋試樣端面，使測試中掃出效應(yīng)不顯著。
6.了溫度影響
半 導(dǎo)體 中 雜質(zhì)的復(fù)合特性受溫度強烈影響，控制測量時的溫度就相當(dāng)重要。在相同溫度下進(jìn)行的測量才可以作比較
6.8 雜質(zhì)復(fù)合中心影響
不同 的 雜 質(zhì)中心具有不同的復(fù)合特性，當(dāng)試樣中存在一種以上類型的復(fù)合中心時·觀察到的衰減曲線可能包含兩個或多個具有不同時問常數(shù)的指數(shù)曲線，諸曲線合成結(jié)果也不呈指數(shù)規(guī)律，測量不能得出單一壽命值C光片的影響
濾光片本身有信號，它和試樣信號疊加產(chǎn)生測試誤差因此應(yīng)選擇厚度1 nim,與被測試樣材料相信號較弱(低壽命值)的濾光片
試劑和材料
目︺月、
已同
了.1 純水
25 C 時 電阻率大于2M O.cm的去離子水。
7.2 研磨材料
氧化 鋁 粉 ，顆粒范圍為5^1 2.Fm
7.3 歐姆接觸材料
在試 樣 端 面應(yīng)形成歐姆接觸，可使用鎳、鍺或金電鍍浴，要避免銅沾污，對硅試樣.可用一小滴3i滴在金剛砂布上，并使用加熱盤將試樣加熱至35 Co

8 測試儀器
Mol試電路圖脈沖(方法A)或斬切(方法B)光源，光源須在光強從最大值減小到其10%時關(guān)斷，或關(guān)斷時間小于， 門產(chǎn)a c。測試樣壽命時間的1/5或更少。用于硅試樣測量的光源光譜分布的最大值應(yīng)在波長范圍1. 0-1.1 p m以內(nèi)。
8.2.1 方法A- Al閃光管或放電管，配備。01 fF的電容器U及可提供頻率為2-60 Hz脈沖的高壓電源光源應(yīng)在。3k s內(nèi)達(dá)到最大光強，并在小于。.5 k s內(nèi)光強由最大值下降不大于5% 采用更小的電容可獲得更短的脈沖寬度，適合測量表觀壽命低于5ks的試樣
8.2.2 方法B- 脈沖發(fā)生器光源，用以產(chǎn)生周期性方波光脈沖，脈沖幅度、高度和間隔應(yīng)單獨可調(diào)，脈沖寬度和間隔的可調(diào)范圍最少應(yīng)在5-20 lxs之間，光源最高輻射能應(yīng)足夠大，測量信號最小不低于1 mV;光脈沖上升沿和下降沿兩個時間系數(shù)均應(yīng)小于被測最低表觀壽命值的1/5。脈沖發(fā)生器還應(yīng)為信號調(diào)節(jié)器和示波器提供觸發(fā)信號。
注: 具 有 所提供特性的光源是一個發(fā)光二極管(LED)，其關(guān)斷時間約為。.1 ,p 此外，用機械轉(zhuǎn)動法把光斬切為頻率 15 H z ,4 5H z 或 77H :的A6 -V, 8- A鎢帶狀燈絲燈，適用于表觀壽命不小干5J..,的測量。
83 電源
電源 應(yīng) 穩(wěn) 定并經(jīng)過良好濾波，應(yīng)在試樣上產(chǎn)生不低于5V的直流電壓。電路中的串聯(lián)電阻R,值至少是試樣電阻R及接觸電阻R。之和的2。倍，電路中還應(yīng)有對試樣電流換向及切斷電流的開關(guān)裝置
8.4 試樣夾具及恒溫器
隔熱 試 樣 夾具及恒溫器應(yīng)使試樣處于規(guī)定溫度27士1七，夾具與試樣的整個端面應(yīng)保持歐姆接觸.
并至少應(yīng)使試樣四個側(cè)面中的一個側(cè)面處于光照下注 制 作 與試樣端面成歐姆接觸的試樣夾具的方法較多，建議使用金屬帶或纖維的壓力接觸，也可用厚鉛板或im板
8.5 濾光片
濾光 片 應(yīng) 雙面拋光，由與試樣相同的材料制成.厚度為1m m，直接放置在矩形窗孔膜片的上方(僅用于方法A，見8.5)
86 矩形窗孔膜片放置 于 靠 近試樣的光照表面，光透過矩形窗孔膜片，只能照射到試樣的部分區(qū)域?qū)Ψ椒ˋ，光照區(qū)域是長度L,=L%2寬度W;= W/ 2;對方法B，光照區(qū)域是長度L;=3.。士。.1 m m,寬度W二W 兩種方光 照 部 位都在試樣中央位置
8，7 電信號測量線路
8.了.1 前置放大器— 具有可調(diào)的高、低頻頻帶范圍.低頻截止頻率從。.3 H- 30 Hz可調(diào)。
8.了.2 信號調(diào)節(jié)器— 脈沖取樣均衡器或波形整形器，用于改善小信號時的信噪比僅用于方法B為保證小注入條件而減少光照時采用。
8.7.3 示波器— 具有合適的時間掃描和信號靈敏度及經(jīng)校準(zhǔn)的時間基線，其精度和線性度都優(yōu)于3%，并能被試驗信號或外部信號觸發(fā)，還應(yīng)配備有助于分析衰減曲線的透明屏幕，其要求如下
a) 對 方 法A,規(guī)定屏幕尺寸在10cmx10cm以內(nèi)一該尺寸有利于減小視差。
4 對電路總體要求:
a)校正垂直掃描靈敏度至。.1 mv/cm或更好;
b)校正垂直增益和掃描線性度在3%以內(nèi);
c)響應(yīng)時間輸人信號以步進(jìn)方式變化時，輸出信號的衰減不超過所測最小表觀壽命值的1/5
d)脈沖沒有明顯的變壞現(xiàn)象，如過沖或阻尼效應(yīng)。
研 磨設(shè)備
8.9
8.10
能把試樣的所有表面加工成光滑、平整的表面。
清洗和干燥設(shè)備
可用水沖洗或超聲清洗。干燥設(shè)備提供干燥氮氣吹干試樣。
試樣 尺寸測量工具
精度為。.01 m m的千分尺或游標(biāo)卡尺。
9.1
試樣制備
從晶 體上指定區(qū)域切取試樣，長度為L,厚度為T.寬度為W，如表1所示對方法B,推薦使用尺
寸類型B和類型C,測量、記錄所有尺寸，精確到0.1 m m}
注 :較 低 壽命值的材料側(cè)量宜使用較小尺寸的試樣直拉硅單晶的側(cè)量大都使用類型 B,而區(qū)熔硅單晶的測 WE建議
采 用類 型 C。
9.2 測量前，用氧化鋁粉研磨試樣使試樣的六個表面成為平整的磨面
9.3 將研磨后的試樣用超聲情洗或用水沖洗，用干燥氮氣吹干試樣端面應(yīng)清潔于凈.有利形成;e% 1`t
歐姆接觸
9.4 在試樣的兩個整個端面上制作歐姆接觸
注 推 薦 在鍺試樣的端面鍍鎳、鍺或金，鍍膜過程中應(yīng)避免銅沾污;對硅試樣最好辦法是把試樣加熱到as(. ('i}研
磨端 面 ， 防 止滴 在 金 剛砂布上的稼形成錦污點也可在n型硅試樣端面鍍鎳，在pttj硅試樣端面鍍銘-
9.5 如果試樣導(dǎo)電類型是未知的，可按GB/T 1550測定
9.6 測試接觸點:
9.6.1 將試樣置于夾具中，以一個方向接通電流，在試樣上形成2--5 V的電壓，記錄該電壓降10
9.6.2 改變電流方向.記錄試樣r.電壓降V,
9.6.3 如果v一與v 的差小于5寫，則試樣具有歐姆接觸
9.7 按GB/T 1551測量和記錄并修正其至27 C時的電阻率
10 測量步驟
10.1 方法A一一脈沖光方法
10.11 用試樣夾具夾緊試樣，定位于膜片的矩形窗孔處.使試樣的中央處于光照F.,測量并記錄試祥
夾具的溫度，取值士1C
10.1.2 開啟光源，將前置放大器與示波器接通
10,1.3 接通電源，調(diào)整電流，在試樣上產(chǎn)生2一5V電壓。
怕.1.4 使觀察到的衰減曲線與畫在示波器透明屏上的標(biāo)準(zhǔn)指數(shù)曲線一致(見8.7.3,)).方法如F
a) 調(diào) 節(jié)垂 直位移旋鈕，使觀察到的衰減曲線的基線與標(biāo)準(zhǔn)指數(shù)曲線的基線重合調(diào)節(jié)時間基準(zhǔn)掃
描速度于一較低值，使屏幕橫向上出現(xiàn)多個衰減曲線，以易于調(diào)節(jié)
b) 延 長 時間基準(zhǔn)以產(chǎn)生一個單周期信號圖樣，調(diào)節(jié)水平位移、垂直放大和時間基準(zhǔn)掃描速度，直到
觀察到的曲線與標(biāo)準(zhǔn)指數(shù)曲線盡可能吻合，脈沖峰值△V,與標(biāo)準(zhǔn)曲線左邊L方點致
10-1.5 側(cè)試試徉是否存在光生伏特效應(yīng):關(guān)斷電流，保留光照，其他旋鈕不動，觀察示波器是否檢測到
一個 光電壓信號如果檢測到一個超過脈沖峰值1%的信號，則試樣中存在光生伏特效應(yīng).該試樣不適
合用 本方法測量
10-1.6 若未觀察到上述光電壓信號且衰減曲線呈純指數(shù)曲線，則可由(3)式確定表觀壽命rFC}s );
7r = 2. 5 ·S , ··· ·· ··· ··· ·· ·· ··· ··· ·? ? ( 3 、
式中:S,-一時間基準(zhǔn)掃描速度，Ks/c mo
10.17 若示波器時間基準(zhǔn)未經(jīng)校準(zhǔn)，則標(biāo)準(zhǔn)指數(shù)曲線不適用，表觀壽命可如下確定:旋轉(zhuǎn)時間基準(zhǔn)掃
描速度至一合適分度值S,(Ps/cm),測量衰減曲線t任意兩點間幅度比為2: 7 的水平距離M(cm),由
(仲 式計算TF
介 一 1. 4 411 俗 ·· ··· ··· ··· ··· ··· ··· ··· ·? ? ( 4 )
當(dāng)不 其 備 屏 幕 標(biāo)準(zhǔn)曲線(見8.7. 3a ))時，也可用該步驟
10. 1.8 當(dāng)觀察到的屏幕衰減曲線呈非純指數(shù)曲線但接近t"純指數(shù)曲線時，表觀壽命可由曲線低端的
幾對 點確定
a) 若 試 樣 的 一半或少于一半的寬度已受光照，表觀壽命從信號衰減到其峰值的60/以后的曲線部
分來 測定;
b) 若 試 樣 一半 以t的寬度已受光照，表觀壽命從信號衰減到其峰值的25%以后的曲線部分來測
定 :
。〕 L 述 兩 種 情況都要增加垂直增益以延長衰減曲線使指定部分達(dá)到屏幕垂直滿刻度，調(diào)節(jié)時問
縫準(zhǔn) 掃描到一合適分度值S2(ks/cm)，使衰減曲線的指定部分盡可能達(dá)到屏幕水平滿ail度，測峨曲線t
幅度 比為2:1的任意兩點間水平距離M(cm),由(5)式計算表觀壽命:
TF.、 一 1 .4 4M S ,. ·
重復(fù) 卜述 過程兩遍以卜，得到=F=,=Fs等;
d) 確 定 和記錄平均表觀壽命:F，即rF，的平均值。若rp;之問差值超過切% 則該試樣不適合用術(shù)方
法測址
l: 特 別 是在p型硅的情況卜壽命隨載流子濃度雨數(shù)變化非常迅速，在寬范圍內(nèi)取得的平均仇生的1吳差可能很
大
10門9 試樣是否存在陷阱效應(yīng)由表觀壽命值的變化來確定。諸壽命值從小J幾衰減曲線峰值(}L'>)的
25%的曲線部分來測定。若壽命值在沿曲線更低處測量時反而增加，則存在陷阱把試樣加熱到5。嚴(yán)-
刊C或用一穩(wěn)定的本底光照射試樣，可消除陷阱效應(yīng)若陷阱的影響超過曲線總幅度的5%，則該試桿
不適于用本方法測量。
10.1門0 檢查是否滿足掃出條件
a) 關(guān) 斷 光源，測量試樣上直流電壓V,;
b) 計 算 V*與:r的積，若乘積不大于表4給出的對應(yīng)常數(shù)，則滿足掃出條件，即掃出效應(yīng)不顯著，進(jìn)
行10. 1. 11操作;
c) 表 4 給出的常數(shù)，僅用于推薦長度的試樣，其他長度的試樣，其條件由(6)式給出:
Va c· r, 毛 3 0L /p
式中:1.— 試樣長度·mm;
k— 少 數(shù)載 流 子遷移率，cm,/V ·s(見表4);
rF— 表 觀壽命，has
d) 若 不 滿足掃出條件，可降低試樣電流來減小V, 這將會改變曲線形狀.1F值也將發(fā)生變化
。) 重 復(fù)從 10.1.4- 10.1.10d)的操作，直至:F值是一個常數(shù)且滿足掃出條件。
表 4 少 數(shù) 載 流 子 遷 移 率 與 方 法 A推薦試樣長度對應(yīng)的掃出條件常數(shù)
材料遷移率,cm'/V.; 類型A 類型B和C
p型鍺
n型鍺
p型硅
n型硅
7.3
飛1
12
2眨)
12
土8
藝O
只只
0 0 0 0
8 8 魂47
10.1.11
10. 1.11.1
10. 1.11. 2
10.1.11. 3
檢查是否滿足小注入條件
用與 滿足掃出條件相同的電流值.開啟光源.測量脈沖峰值,w
若 △叭/叭鎮(zhèn)0.01，則滿足小注入條件.進(jìn)行“計算”.
若 △vo/v,>0.01，則按(7)式修正表觀壽命
10.1IT.f
二T'.-,C1 一(AVIly )〕
(6)
門
習(xí)
(7)
式中:r曰〕肥肥— 飛。.1.6中測量或
表觀壽命修正值
7中計算的表觀壽命值;
10.2
10.2.1
溫度
10-2.2
10.2.3
方法is一一斬切光方法
用夾 具夾緊試樣于定位膜片矩形窗孔處，使試樣中央位置處于光照「.測量并記錄試樣夾具的
開啟光源連接前置放大器與示波器
接通電源并調(diào)節(jié)電流，使試樣上產(chǎn)生2---5 v電壓，調(diào)節(jié)脈沖幅度、示波器垂直增益及掃描速度
旋鈕，使示波器上出現(xiàn)幾個單周期信號。
10-2.4 調(diào)節(jié)脈沖寬度，使脈沖幅度達(dá)到飽和值△v 在脈沖關(guān)斷之前同時調(diào)節(jié)脈沖截止時間.使信勺
到達(dá)兩個脈沖間的基線(直流電壓值)
10.2. 5 調(diào)節(jié)T波器掃描速度旋鈕、電流及脈沖幅度，使示波器屏幕上出現(xiàn)的單周期信號圖形具了聲洲檢測對象        儀器名稱
光伏組件         絕緣耐壓測試儀
        熱循環(huán)-濕熱-濕凍試驗機
        機械載荷試驗機
        冰雹撞擊試驗機
        紫外預(yù)處理試驗機
        鹽霧腐蝕試驗箱
        熱斑耐久/光老練/預(yù)衰減試驗機
EVA檢測儀器        EVA交聯(lián)度測試系統(tǒng)
        剝離強度試驗機
        表面張力儀
        EVA封裝模
TPT檢測儀器        抗劃傷試驗機
        透氣/透濕性測試儀
        電荷測量儀
絨面鋼化玻璃檢測儀器         透光率/霧度測定儀
        彎曲度測試儀
        落球沖擊試驗機
        應(yīng)力測試儀
        霰彈撞擊試驗機
涂錫焊帶檢測儀器         低電阻測試儀
        熔點測定儀
接線盒檢測儀器        引線端強度試驗機
硅膠檢測儀器        邵氏硬度計
環(huán)境試驗箱        鹽水噴霧試驗機
        氙燈耐氣候試驗箱
        恒溫恒濕試驗機
        紫外光老化試驗機伏太陽能系統(tǒng) 測試方案
測試范圍        測試儀器        測試指標(biāo)
TPT(PVF)，EVA(PVB)樹脂檢測        抗劃傷試驗機透氣/透濕性測試儀電荷測量儀(無線電干涉儀)EVA交聯(lián)度測試系統(tǒng)剝離強度試驗機表面張力儀        檢測樹脂材料的可靠性
絨面鋼化玻璃檢測        透光率/霧度測定儀彎曲度測試儀落球沖擊試驗機霰彈撞擊試驗機應(yīng)力測量儀        檢測鋼化玻璃的可靠性
密封硅膠檢測        邵氏硬度計萬能材料試驗機擠出性試驗裝置        檢測密封部位的可靠性
組件接線盒檢測        可程式恒溫恒濕試驗機鹽霧腐蝕試驗箱可接觸性試驗指噴淋裝置        檢測連接部位可靠性
材料試驗        跌落試驗機RCA紙帶耐磨試驗機TABER耐磨試驗機拉壓力試驗機電磁振動試驗機萬能材料試驗機        檢測機械特性
光伏組件檢測        外觀目測系列儀器戶外曝曬架       
        I-V曲線測試儀        檢測電路板電路性能
        熱循環(huán)-濕熱-濕凍試驗機濕漏電流測試系統(tǒng)及噴淋裝置機械載荷試驗機冰雹撞擊試驗機       
        脈沖太陽模擬器        單體電池和小尺寸組件的測試
        穩(wěn)態(tài)太陽模擬器(熱斑耐久/光老練試驗機)        大尺寸組件的測試.被測電池?zé)彷斎肟梢院雎?
        紫外預(yù)處理試驗機       
        輻照度儀,日照強度計        積分式照度，發(fā)光強度測量
        鹽霧腐蝕試驗箱       
★鋁合金框檢測        原子吸收光譜儀紫外可見分光光度計        將成分復(fù)雜的光分解為光譜線，檢測多種微量金屬元素
        分光束顯微鏡       
        色度色差儀        三刺激值、色品坐標(biāo)、主波長及色差值,用于測色、配色和顏色的比較。
        鹽霧腐蝕試驗機(CASS試驗)TABER耐磨試驗機       
★涂錫焊帶檢測        原子吸收光譜儀       
        低電阻測試儀        用于變壓器、電機線包繞組，電感線圈的直流電阻的測試，繼電器、開關(guān)、接插件的接觸電阻測量導(dǎo)線電阻、元器件焊點的接觸電阻，印制板銅箔線條及焊孔電阻等各種導(dǎo)體的微小電阻值的測量。
        萬能材料試驗機熔點測定儀       
★硅電池檢測        表面輪廓儀        測量各種精密機械零件的素線形狀，直線度、角度、凸度、輪廓度、傾斜度、平行度、對數(shù)曲線、槽深、槽寬、溝曲率半徑、溝邊距、溝心距等參數(shù)。
        單晶少子壽命測試儀        測量單晶硅少數(shù)載流子壽命。
        電阻率儀       
        紅外成像儀        測試組件發(fā)熱情況，測隱性裂紋，測量玻璃表面溫度，電池顏色及表面和背面印刷瑕疵，突起、凹陷；破片率。
        等離子體質(zhì)譜儀        應(yīng)用于醫(yī)藥、環(huán)保、食品、生物、冶金等領(lǐng)域的微量元素，稀土元素、重金屬元素等的分析
        標(biāo)準(zhǔn)電池電池片(脈沖)太陽模擬器       
        I-V曲線測試儀        測量Pmax, Imax, Vmax, Isc,Voc,FF,Eff,Rs,Rsh以及I-V曲線?？烧页鎏柲苣＝M最大功率的工作點 (Vmaxp, Imaxp) 量測最大功率時 (Pmax) 的最大電壓 (Vmaxp) 最大電流 (Imaxp) 量測開路電壓 (Vopen) 與短路電流 (Ishort) 移動指標(biāo)可顯示I-V特性曲線每一點的特性值
        高穩(wěn)定度，高精密電源       
        數(shù)據(jù)采集開關(guān)單元       
        高精度數(shù)字萬用表示波器        觀測電路各節(jié)點電壓信號
        電子負(fù)載        檢測電池組件在室外真實自然條件下的實際效率，提供電池組件真實條件的轉(zhuǎn)換效率，還可以對長期工作后電池組件的效率的變化進(jìn)行跟蹤，更換不良組件，提高發(fā)電效率。
★蓄電池檢測        電池測試儀        測電池容量，電阻、電流、電壓，內(nèi)阻，充電，放電性能
        逆變器檢測儀控制器檢測儀太陽能光伏系統(tǒng)檢測儀        模擬各種 RLC交流負(fù)載，模擬逆變器各類工作環(huán)境，可以精確檢測逆變器實際輸出功率與帶載能力，可以精確檢測調(diào)試光伏逆變器的諧振點，主機內(nèi)置有純阻性負(fù)載和感性負(fù)載，功率輸入采用分段式組合控制，可以任意組合各種功率輸入。
★原子吸收及樣品制備系統(tǒng)        微波消解樣品制備系統(tǒng)高頻紅外碳硫分析儀原子熒光分光光度計CAAM-2001原子吸收光譜儀       
        紫外可見分光光度計        評價電池表面的反射性能和透射性能，以降低反射，透射。
        積分球        用來收集從固體表面（例如光電池）反射出來的光（包括漫反射或者全反射），應(yīng)用相應(yīng)的樣品固定附件，也可以用來測定太陽能電池材料的透射性能。
光譜分析        SensAA系列原子吸收光譜儀Avanta系列原子吸收光譜儀Cintra系列紫外分光光度計        太陽能電池光譜響應(yīng)測試，或稱量子效率QE測試，或光電轉(zhuǎn)化效率測試等，測量不同波長光照條件下的光電轉(zhuǎn)換特性，對提高太陽能電池的生產(chǎn)工藝水平（例如制絨、擴散、背場等工藝）、判斷硅片材料質(zhì)量以及研究電池片的性能有重要的參考價值。
環(huán)境試驗        冷卻水循環(huán)系統(tǒng)可程式恒溫恒濕試驗機鹽水噴霧試驗機氙燈耐氣候試驗箱紫外光老化試驗機        模擬各種自然環(huán)境，如溫度變化，濕度變化，及各種惡劣環(huán)境以確認(rèn)太陽能電池能夠承受環(huán)境變化，避免由此引起的疲勞和失效。
整機測試        電源高精度數(shù)字萬用表電子負(fù)載       
        靜電放電測試儀耐壓絕緣泄漏測試儀        安全規(guī)范測試
        電磁干擾(EMI) 測試儀電磁抗擾度(EMS) 測試儀        設(shè)備或系統(tǒng)在其電磁環(huán)境中能正常工作且不對該環(huán)境中任何事物構(gòu)成不能承受的電磁騷擾。關(guān)于更多EVA交聯(lián)度測試儀請訪問公司主頁
http://www.jryiqi.com/prodetail-2779505.html