微觀譜圖分析 ? 組成元素分析
定性定量分析 ? 組成成分分析
性能質(zhì)量 ? 含量成分
爆炸極限 ? 組分分析
理化指標(biāo) ? 衛(wèi)生指標(biāo) ? 微生物指標(biāo)
理化指標(biāo) ? 微生物指標(biāo) ? 儀器分析
安定性檢測(cè) ? 理化指標(biāo)檢測(cè)
產(chǎn)品研發(fā) ? 產(chǎn)品改善
國(guó)標(biāo)測(cè)試 ? 行標(biāo)測(cè)試
中析研究所檢測(cè)中心
400-635-0567
中科光析科學(xué)技術(shù)研究所
公司地址:
北京市豐臺(tái)區(qū)航豐路8號(hào)院1號(hào)樓1層121[可寄樣]
投訴建議:
010-82491398
報(bào)告問(wèn)題解答:
010-8646-0567
檢測(cè)領(lǐng)域:
成分分析,配方還原,食品檢測(cè),藥品檢測(cè),化妝品檢測(cè),環(huán)境檢測(cè),性能檢測(cè),耐熱性檢測(cè),安全性能檢測(cè),水質(zhì)檢測(cè),氣體檢測(cè),工業(yè)問(wèn)題診斷,未知成分分析,塑料檢測(cè),橡膠檢測(cè),金屬元素檢測(cè),礦石檢測(cè),有毒有害檢測(cè),土壤檢測(cè),msds報(bào)告編寫(xiě)等。
發(fā)布時(shí)間:2025-06-16
關(guān)鍵詞:晶振怎么測(cè)試測(cè)試范圍,晶振怎么測(cè)試測(cè)試方法,晶振怎么測(cè)試項(xiàng)目報(bào)價(jià)
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來(lái)源:北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所
因業(yè)務(wù)調(diào)整,部分個(gè)人測(cè)試暫不接受委托,望見(jiàn)諒。
標(biāo)稱頻率測(cè)量:驗(yàn)證輸出頻率與標(biāo)稱值偏差,精度要求±0.1ppm~±50ppm
負(fù)載電容匹配:測(cè)試12pF~32pF負(fù)載下頻率牽引范圍,容差±5%
工作溫度特性:-40℃~+85℃溫箱內(nèi)監(jiān)測(cè)頻率偏移,標(biāo)準(zhǔn)值±10ppm~±50ppm
啟動(dòng)時(shí)間測(cè)試:上電至穩(wěn)定輸出的時(shí)間閾值,通常0.5ms~10ms
相位噪聲分析:偏離載波10kHz處測(cè)量噪聲電平,基準(zhǔn)值-140dBc/Hz±3dB
老化率評(píng)估:1000小時(shí)持續(xù)運(yùn)行記錄頻率漂移,年老化率±1ppm~±5ppm
諧波失真檢測(cè):二/三次諧波分量強(qiáng)度,限制值-30dBc以下
驅(qū)動(dòng)電平容限:輸入功率0.1μW~100μW范圍測(cè)試非線性失真
絕緣阻抗驗(yàn)證:引腳間DC 100V耐壓測(cè)試,阻抗>500MΩ
機(jī)械沖擊試驗(yàn):15G加速度沖擊后頻率穩(wěn)定性檢測(cè)
回流焊耐熱性:260℃±5℃三次回流后參數(shù)漂移檢測(cè)
密封性檢驗(yàn):氦質(zhì)譜儀檢漏率≤5×10??Pa·m3/s
石英晶體諧振器:基礎(chǔ)頻率元件,適用手表、微控制器等低頻場(chǎng)景
溫度補(bǔ)償晶振:內(nèi)置補(bǔ)償電路,用于基站、導(dǎo)航設(shè)備等寬溫環(huán)境
壓控晶振:電壓調(diào)頻型,適用于通信系統(tǒng)頻率調(diào)制
恒溫晶振:精密恒溫槽結(jié)構(gòu),航天級(jí)頻率基準(zhǔn)源
表面貼裝晶振:SMD封裝,手機(jī)主板等空間受限場(chǎng)景
差分輸出晶振:LVDS/PECL接口,高速數(shù)據(jù)傳輸時(shí)鐘源
可編程晶振:現(xiàn)場(chǎng)配置輸出頻率,F(xiàn)PGA時(shí)鐘系統(tǒng)專用
車載級(jí)晶振:-40℃~125℃工作范圍,汽車電子控制系統(tǒng)
抗輻照晶振:航天電子設(shè)備輻射環(huán)境專用
MEMS硅晶振:全硅結(jié)構(gòu),高抗沖擊工業(yè)設(shè)備
TCXO模塊:溫度補(bǔ)償型集成模塊,物聯(lián)網(wǎng)終端設(shè)備
OCXO恒溫模塊:恒溫控制振蕩器,5G基站時(shí)鐘單元
IEC 60122-1:2020 石英晶體元件測(cè)試方法
GB/T 12274-2018 晶體振蕩器通用規(guī)范
MIL-PRF-3098H 軍用晶體元件性能要求
JIS C6701:2021 晶體振子測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)
EN 166000:1996 石英晶體元件總規(guī)范
ASTM F1172-88(2020) 晶體時(shí)基穩(wěn)定性測(cè)試
GB/T 32285-2015 表面貼裝石英晶體元件
IEC 60679-1:2017 壓電濾波器與振蕩器測(cè)試
Telcordia GR-1244-CORE 通信設(shè)備時(shí)鐘要求
AEC-Q200 汽車電子元件可靠性驗(yàn)證
高精度頻率計(jì)數(shù)器:分辨率0.001ppb,執(zhí)行標(biāo)稱頻率及老化率測(cè)量
網(wǎng)絡(luò)分析儀:10MHz~50GHz頻段,測(cè)試負(fù)載電容下的阻抗特性
相位噪聲測(cè)試系統(tǒng):-190dBc/Hz底噪,分析振蕩信號(hào)頻譜純度
恒溫恒濕試驗(yàn)箱:-70℃~180℃溫控范圍,驗(yàn)證溫度頻率特性
半導(dǎo)體參數(shù)分析儀:pA級(jí)電流檢測(cè),進(jìn)行絕緣阻抗測(cè)試
振動(dòng)沖擊試驗(yàn)臺(tái):最大加速度200G,機(jī)械可靠性驗(yàn)證
氦質(zhì)譜檢漏儀:靈敏度10?12Pa·m3/s,密封性能檢測(cè)
回流焊模擬設(shè)備:16溫區(qū)精確控溫,耐熱性測(cè)試
高速數(shù)字示波器:100GHz采樣率,測(cè)量啟動(dòng)時(shí)間及波形質(zhì)量
頻譜分析儀:頻率范圍1Hz~50GHz,諧波失真分析
1、咨詢:提品資料(說(shuō)明書(shū)、規(guī)格書(shū)等)
2、確認(rèn)檢測(cè)用途及項(xiàng)目要求
3、填寫(xiě)檢測(cè)申請(qǐng)表(含公司信息及產(chǎn)品必要信息)
4、按要求寄送樣品(部分可上門(mén)取樣/檢測(cè))
5、收到樣品,安排費(fèi)用后進(jìn)行樣品檢測(cè)
6、檢測(cè)出相關(guān)數(shù)據(jù),編寫(xiě)報(bào)告草件,確認(rèn)信息是否無(wú)誤
7、確認(rèn)完畢后出具報(bào)告正式件
8、寄送報(bào)告原件