微觀譜圖分析 ? 組成元素分析
定性定量分析 ? 組成成分分析
性能質(zhì)量 ? 含量成分
爆炸極限 ? 組分分析
理化指標(biāo) ? 衛(wèi)生指標(biāo) ? 微生物指標(biāo)
理化指標(biāo) ? 微生物指標(biāo) ? 儀器分析
安定性檢測(cè) ? 理化指標(biāo)檢測(cè)
產(chǎn)品研發(fā) ? 產(chǎn)品改善
國(guó)標(biāo)測(cè)試 ? 行標(biāo)測(cè)試
中析研究所檢測(cè)中心
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中科光析科學(xué)技術(shù)研究所
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成分分析,配方還原,食品檢測(cè),藥品檢測(cè),化妝品檢測(cè),環(huán)境檢測(cè),性能檢測(cè),耐熱性檢測(cè),安全性能檢測(cè),水質(zhì)檢測(cè),氣體檢測(cè),工業(yè)問(wèn)題診斷,未知成分分析,塑料檢測(cè),橡膠檢測(cè),金屬元素檢測(cè),礦石檢測(cè),有毒有害檢測(cè),土壤檢測(cè),msds報(bào)告編寫(xiě)等。
發(fā)布時(shí)間:2025-05-06
關(guān)鍵詞:專(zhuān)利申請(qǐng)?jiān)O(shè)計(jì)及登記注冊(cè)檢測(cè)案例,專(zhuān)利申請(qǐng)?jiān)O(shè)計(jì)及登記注冊(cè)檢測(cè)機(jī)構(gòu),專(zhuān)利申請(qǐng)?jiān)O(shè)計(jì)及登記注冊(cè)檢測(cè)范圍
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來(lái)源:北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所
因業(yè)務(wù)調(diào)整,部分個(gè)人測(cè)試暫不接受委托,望見(jiàn)諒。
專(zhuān)利申請(qǐng)?jiān)O(shè)計(jì)及登記注冊(cè)檢測(cè)包含三大基礎(chǔ)項(xiàng)目:技術(shù)特征完整性驗(yàn)證、法律合規(guī)性審查和創(chuàng)新性等級(jí)評(píng)定。技術(shù)特征驗(yàn)證需核查專(zhuān)利說(shuō)明書(shū)與權(quán)利要求書(shū)的對(duì)應(yīng)關(guān)系,重點(diǎn)確認(rèn)實(shí)施例數(shù)據(jù)對(duì)技術(shù)方案的支撐作用;法律合規(guī)性審查依據(jù)《專(zhuān)利審查指南》對(duì)申請(qǐng)文件格式、權(quán)利要求表述方式及保護(hù)范圍進(jìn)行合規(guī)判定;創(chuàng)新性評(píng)定通過(guò)對(duì)比現(xiàn)有技術(shù)文獻(xiàn)庫(kù)數(shù)據(jù),建立技術(shù)效果提升量化模型。
補(bǔ)充項(xiàng)目包括外觀設(shè)計(jì)專(zhuān)利的視覺(jué)顯著性測(cè)試與實(shí)用新型專(zhuān)利的功能等效性驗(yàn)證。前者采用視覺(jué)認(rèn)知實(shí)驗(yàn)測(cè)定設(shè)計(jì)要素的公眾辨識(shí)度閾值,后者通過(guò)功能參數(shù)比對(duì)驗(yàn)證技術(shù)方案的實(shí)質(zhì)性改進(jìn)程度。
覆蓋發(fā)明專(zhuān)利、實(shí)用新型專(zhuān)利和外觀設(shè)計(jì)專(zhuān)利三大類(lèi)別:
發(fā)明專(zhuān)利:機(jī)械傳動(dòng)系統(tǒng)、電子電路拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)、化學(xué)合成工藝等技術(shù)方案
實(shí)用新型:產(chǎn)品結(jié)構(gòu)改進(jìn)方案、功能模塊集成系統(tǒng)
外觀設(shè)計(jì):工業(yè)產(chǎn)品造型要素組合、圖形用戶(hù)界面動(dòng)態(tài)效果
特殊領(lǐng)域擴(kuò)展至生物醫(yī)藥領(lǐng)域的基因序列專(zhuān)利、人工智能算法架構(gòu)專(zhuān)利及新材料組分專(zhuān)利。其中算法專(zhuān)利需進(jìn)行可專(zhuān)利性論證測(cè)試,材料專(zhuān)利須完成組分比例梯度實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證。
標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)方法體系包含:
文獻(xiàn)對(duì)比分析法:運(yùn)用Derwent Innovation數(shù)據(jù)庫(kù)進(jìn)行全球?qū)@墨I(xiàn)檢索
進(jìn)階方法包含技術(shù)路線圖比對(duì)法和產(chǎn)業(yè)應(yīng)用預(yù)測(cè)模型。前者通過(guò)繪制技術(shù)發(fā)展時(shí)序圖譜定位創(chuàng)新點(diǎn)價(jià)值層級(jí);后者運(yùn)用TRIZ理論預(yù)測(cè)技術(shù)方案的市場(chǎng)轉(zhuǎn)化潛力。
儀器類(lèi)別 | 應(yīng)用場(chǎng)景 |
---|---|
三維形貌掃描儀 | 外觀設(shè)計(jì)專(zhuān)利的立體結(jié)構(gòu)數(shù)據(jù)采集 |
熱重-紅外聯(lián)用儀 | |
專(zhuān)用設(shè)備包含專(zhuān)利權(quán)利要求解析系統(tǒng)(CLAIMScope)和技術(shù)特征提取工作站(TechExtractor Pro)。前者基于自然語(yǔ)言處理技術(shù)自動(dòng)生成權(quán)利要求樹(shù)狀圖;后者運(yùn)用機(jī)器學(xué)習(xí)算法實(shí)現(xiàn)技術(shù)方案要素的智能拆分與標(biāo)注。
1、咨詢(xún):提品資料(說(shuō)明書(shū)、規(guī)格書(shū)等)
2、確認(rèn)檢測(cè)用途及項(xiàng)目要求
3、填寫(xiě)檢測(cè)申請(qǐng)表(含公司信息及產(chǎn)品必要信息)
4、按要求寄送樣品(部分可上門(mén)取樣/檢測(cè))
5、收到樣品,安排費(fèi)用后進(jìn)行樣品檢測(cè)
6、檢測(cè)出相關(guān)數(shù)據(jù),編寫(xiě)報(bào)告草件,確認(rèn)信息是否無(wú)誤
7、確認(rèn)完畢后出具報(bào)告正式件
8、寄送報(bào)告原件