微觀(guān)譜圖分析 ? 組成元素分析
定性定量分析 ? 組成成分分析
性能質(zhì)量 ? 含量成分
爆炸極限 ? 組分分析
理化指標(biāo) ? 衛(wèi)生指標(biāo) ? 微生物指標(biāo)
理化指標(biāo) ? 微生物指標(biāo) ? 儀器分析
安定性檢測(cè) ? 理化指標(biāo)檢測(cè)
產(chǎn)品研發(fā) ? 產(chǎn)品改善
國(guó)標(biāo)測(cè)試 ? 行標(biāo)測(cè)試
中析研究所檢測(cè)中心
400-635-0567
中科光析科學(xué)技術(shù)研究所
公司地址:
北京市豐臺(tái)區(qū)航豐路8號(hào)院1號(hào)樓1層121[可寄樣]
投訴建議:
010-82491398
報(bào)告問(wèn)題解答:
010-8646-0567
檢測(cè)領(lǐng)域:
成分分析,配方還原,食品檢測(cè),藥品檢測(cè),化妝品檢測(cè),環(huán)境檢測(cè),性能檢測(cè),耐熱性檢測(cè),安全性能檢測(cè),水質(zhì)檢測(cè),氣體檢測(cè),工業(yè)問(wèn)題診斷,未知成分分析,塑料檢測(cè),橡膠檢測(cè),金屬元素檢測(cè),礦石檢測(cè),有毒有害檢測(cè),土壤檢測(cè),msds報(bào)告編寫(xiě)等。
發(fā)布時(shí)間:2025-04-29
關(guān)鍵詞:手表試驗(yàn)儀器,手表檢測(cè)案例,手表檢測(cè)范圍
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來(lái)源:北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所
因業(yè)務(wù)調(diào)整,部分個(gè)人測(cè)試暫不接受委托,望見(jiàn)諒。
手表檢測(cè)包含六大核心項(xiàng)目:走時(shí)精度測(cè)試驗(yàn)證日差與位差指標(biāo);防水性能測(cè)試評(píng)估不同壓力環(huán)境下的密封性;外觀(guān)檢查涵蓋表殼劃痕、鍍層附著力及表鏡透光率;材質(zhì)分析涉及金屬成分鑒定與有害物質(zhì)篩查;功能測(cè)試包括日歷跳轉(zhuǎn)、計(jì)時(shí)模塊及智能交互系統(tǒng)驗(yàn)證;磁場(chǎng)抗干擾能力測(cè)試依據(jù)ISO 764標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行。
檢測(cè)對(duì)象覆蓋機(jī)械表、石英表、智能手表三大品類(lèi):機(jī)械表重點(diǎn)檢測(cè)擺輪振幅與動(dòng)力儲(chǔ)存誤差;石英表側(cè)重電路板穩(wěn)定性與電池續(xù)航;智能手表需驗(yàn)證傳感器精度與軟件兼容性。特殊用途手表擴(kuò)展至潛水表(ISO 6425)、航空表(MIL-STD-810G)及防磁表(IEC 61000-4-8)等正規(guī)領(lǐng)域。
走時(shí)精度采用校表儀進(jìn)行六方位動(dòng)態(tài)監(jiān)測(cè);防水測(cè)試通過(guò)氣壓/水壓試驗(yàn)箱實(shí)施梯度增壓;材質(zhì)成分使用X射線(xiàn)熒光光譜儀非破壞性分析;磁場(chǎng)抗擾度在亥姆霍茲線(xiàn)圈中完成3D軸向暴露實(shí)驗(yàn);沖擊測(cè)試依據(jù)模擬跌落裝置記錄5000G加速度下的機(jī)芯狀態(tài);藍(lán)寶石玻璃硬度通過(guò)維氏壓痕法量化測(cè)定。
核心設(shè)備包含:瑞士Witschi Chronoscope X1校表儀(±0.1秒/日分辨率)、德國(guó)IMT防水試驗(yàn)箱(0-50ATM可調(diào))、牛津X-MET8000手持光譜儀(檢出限0.01%)、日本三豐CV-3200輪廓儀(0.1μm精度)、交變磁場(chǎng)發(fā)生器(100高斯輸出)及恒溫恒濕箱(-40℃~120℃溫域)。所有設(shè)備均通過(guò)CNAS校準(zhǔn)認(rèn)證并建立三級(jí)溯源體系。
1、咨詢(xún):提品資料(說(shuō)明書(shū)、規(guī)格書(shū)等)
2、確認(rèn)檢測(cè)用途及項(xiàng)目要求
3、填寫(xiě)檢測(cè)申請(qǐng)表(含公司信息及產(chǎn)品必要信息)
4、按要求寄送樣品(部分可上門(mén)取樣/檢測(cè))
5、收到樣品,安排費(fèi)用后進(jìn)行樣品檢測(cè)
6、檢測(cè)出相關(guān)數(shù)據(jù),編寫(xiě)報(bào)告草件,確認(rèn)信息是否無(wú)誤
7、確認(rèn)完畢后出具報(bào)告正式件
8、寄送報(bào)告原件