中析研究所檢測中心
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中科光析科學(xué)技術(shù)研究所
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成分分析,配方還原,食品檢測,藥品檢測,化妝品檢測,環(huán)境檢測,性能檢測,耐熱性檢測,安全性能檢測,水質(zhì)檢測,氣體檢測,工業(yè)問題診斷,未知成分分析,塑料檢測,橡膠檢測,金屬元素檢測,礦石檢測,有毒有害檢測,土壤檢測,msds報告編寫等。
發(fā)布時間:2025-04-10
關(guān)鍵詞:鉭鈮礦石檢測機(jī)構(gòu),鉭鈮礦石檢測方法,鉭鈮礦石檢測周期
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來源:北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所
因業(yè)務(wù)調(diào)整,部分個人測試暫不接受委托,望見諒。
主成分定量分析:鉭(Ta?O?)、鈮(Nb?O?)氧化物含量測定
伴生元素檢測:鐵(Fe)、錳(Mn)、鈦(Ti)、錫(Sn)、鎢(W)等金屬元素分析
有害元素篩查:鈾(U)、釷(Th)等放射性核素含量測定
物理特性測試:礦石密度、硬度、粒度分布及解離度評估
礦物組成鑒定:鉭鐵礦-鈮鐵礦系列礦物定量分析
原礦類型:花崗偉晶巖型、碳酸巖型、砂礦型等成因礦床樣本
加工產(chǎn)物:鉭鈮精礦、中間產(chǎn)物及尾礦殘留物
工業(yè)原料:電容器級鉭粉原料、高溫合金添加劑前驅(qū)體
特殊形態(tài):鉭鈮復(fù)合氧化物陶瓷材料、冶金級氟鉭酸鉀制品
環(huán)境樣本:礦區(qū)土壤、水體中鉭鈮遷移形態(tài)監(jiān)測
X射線熒光光譜法(XRF):建立標(biāo)準(zhǔn)曲線法測定Ta/Nb主量元素含量
電感耦合等離子體質(zhì)譜法(ICP-MS):同位素稀釋技術(shù)實現(xiàn)ppb級痕量元素分析
化學(xué)滴定法:過硫酸銨氧化-硫酸亞鐵銨返滴定測定高含量Nb?O?
中子活化分析(NAA):非破壞性測定U/Th等放射性元素
掃描電子顯微鏡-能譜聯(lián)用(SEM-EDS):微區(qū)成分分析與礦物形貌表征
激光粒度分析:濕法分散測定礦石顆粒D50值及分布曲線
波長色散X射線熒光光譜儀:配備Rh靶X光管及4kW高壓發(fā)生器
高分辨電感耦合等離子體質(zhì)譜儀:具備碰撞反應(yīng)池及質(zhì)量偏轉(zhuǎn)功能
全自動化學(xué)分析工作站:集成微波消解與自動滴定模塊
顯微共焦拉曼光譜儀:配備532nm/785nm雙激光源及低溫樣品臺
同步熱分析儀:同步測定TG-DSC曲線評估礦物熱穩(wěn)定性
激光誘導(dǎo)擊穿光譜儀(LIBS):現(xiàn)場快速篩查礦石品位分布
伽馬能譜儀:高純鍺探測器實現(xiàn)放射性核素活度測量
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