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硅微條探測(cè)器主要應(yīng)用在高能物理實(shí)驗(yàn)，裂變碎片探測(cè)，常溫X射線檢測(cè)，伽馬射線檢測(cè)，重離子物理實(shí)驗(yàn)和核結(jié)構(gòu)實(shí)驗(yàn)等研究中，隨著生產(chǎn)技術(shù)的日益成熟，不斷滿足客戶更高的要求。
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