國(guó)家有色金屬及電子材料分析測(cè)試中心從事多硅和化合物半導(dǎo)體材料檢測(cè)，可一次完成硅片厚度、總厚度變化、平整度、局部平整度、翹曲度、類型、電阻率的測(cè)試和分類，并可作圖；可進(jìn)行硅拋光片和外延片的表面質(zhì)量分析檢測(cè)，包括顆粒尺寸及數(shù)量的分類；劃傷、桔皮、凹坑等表面質(zhì)量的檢查；利用x射線熒光光譜方法對(duì)硅拋光片和外延片的表面金屬進(jìn)行非破壞性檢測(cè)；紅外氧碳測(cè)試儀是用紅外吸收法分別測(cè)定硅單晶中的間隙氧和替位碳含量，并可計(jì)算外延片的外延層厚度。
中心擁有美國(guó)Thermo Fisher公司最新型號(hào)的Element GD輝光放電質(zhì)譜儀(GDMS)，適用于金屬中ppb級(jí)及其以上含量的雜質(zhì)分析，可以檢測(cè)5N、6N高純鋁、銅、鋅、鎳、鈷、多晶硅中的痕量和超痕量雜質(zhì)元素。

國(guó)家有色金屬及電子材料分析測(cè)試中心，是中國(guó)權(quán)威的第三方金屬檢測(cè)機(jī)構(gòu)，實(shí)驗(yàn)室通過ISO 17025國(guó)家實(shí)驗(yàn)室認(rèn)可(CNAS)，中國(guó)計(jì)量認(rèn)證(CMA)，國(guó)際航空材料認(rèn)證（NADCAP），為客戶提供科學(xué)的產(chǎn)品檢測(cè)、評(píng)價(jià)方案，滿足進(jìn)出口及工程檢測(cè)等各種需求。
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