CSK-IIIA超聲波標(biāo)準(zhǔn)試塊

型號(hào):CSK-IIIA
材質(zhì):20#
公稱(chēng)尺寸:(mm)300×150×30
行位公差(國(guó)標(biāo)):±0.10×0.05×0.05
(⊥): ⊥＜0.05
(∥) :∥＜0.03
(Ra): Ra≤3.2
7-直徑1×6:行位公差±0.10
2-R10: 行位公差±0.10

試塊檢測(cè)報(bào)告:



超聲波探傷

檢測(cè)儀器

CTS-26

探頭

2.5P直徑20

檢測(cè)部位

平面

耦合劑

機(jī)油

增益

80%

抑制

關(guān)

衰減

42db

探傷結(jié)果

材質(zhì)均勻,無(wú)雜質(zhì),無(wú)影響使用缺陷.

試塊材質(zhì)符合GB/T699-1999(優(yōu)質(zhì)碳素結(jié)構(gòu)鋼)標(biāo)準(zhǔn)要求.

金相分析:晶粒度7-8級(jí)





備注:校準(zhǔn)(檢驗(yàn))所用主要計(jì)量標(biāo)準(zhǔn)器

1.游標(biāo)卡尺,2.千分尺3.微孔測(cè)量?jī)x,4.三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x,5.超聲波探傷儀,6.平底孔硅橡膠覆膜檢驗(yàn),7.萬(wàn)能金相顯微鏡,8.樣板平尺,9.粗糙度儀.

CSK-IIIA超聲波標(biāo)準(zhǔn)試塊