設(shè)計特點(diǎn) “反傅立葉變換”在ISO 13320-1之中稱作為“反傅立葉變換”它對顆粒尺寸分布測量的優(yōu)勢被第一次認(rèn)識到，并且被利用且作為Fritsch公司的專利。樣品被安放在聚焦光束中間。測量單元和探測單元之間的距離等于會聚透鏡的焦距在通常的應(yīng)用之中。如果改變測量范圍與傳統(tǒng)的設(shè)計一樣獲得相同的散射圖像，毫無結(jié)構(gòu)上的缺陷。 只需簡單地移動一個變焦透鏡可以簡單地改變測量范圍。 使用者具有對傅立葉元件的局部頻率的完全控制。 分辨率 超級矩陣元達(dá)到520個測量通道 納米范圍的測量 使用了向前的散射和向后的散射 納米范圍的測量 向前的散射 探測單元是非常小的以便于大顆粒的散射光可以以高分辨率被探測到。使用了一個棱鏡形狀的寬角表面，通過它散射光可以以一個大角度的通過。 向后的散射 使用了一個反向激光束，通過同樣的探測器中的微米小孔在測量池中產(chǎn)生光散射在60°--180°范圍內(nèi)反向傳播而被探測到。 模型識別軟件 衍射圖形中的信息不僅包括顆粒尺寸的判斷，還包括顆粒的形狀。傳感器元件的巧妙安放以及“反向反演神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)”的應(yīng)用，再與一個恰當(dāng)?shù)倪x擇性的元件連用，遠(yuǎn)距離的活躍檢測器前的區(qū)域，即可實(shí)現(xiàn)顆粒形狀的識別。具有選擇性的軟件可測定出先前測量的分布在一個較寬的范圍內(nèi)的d50顆粒的長度比率。