MiniTest4100系列涂層測厚儀 德國EPK公司一直致力于開發(fā)和生產(chǎn)各種用于表面處理行業(yè)的精密測量儀器。作為無損涂層厚度測量領(lǐng)域的先驅(qū)，EPK公司與各標(biāo)準(zhǔn)化組織和研究院一道，成功地推進(jìn)了涂層厚度測量在世界范圍內(nèi)的標(biāo)準(zhǔn)化進(jìn)程。大量的專利技術(shù)與成果表明EPK公司是該生產(chǎn)領(lǐng)域的佼佼者。 儀器特點： MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機(jī)，各自 具有不同的數(shù)據(jù)處理功能； 所有型號均可配所有探頭； 可通過RS232接口連接MiniPrint打印機(jī)和計算機(jī)； 可使用一片或二片標(biāo)準(zhǔn)箔校準(zhǔn)。 技術(shù)指標(biāo)： 型號 1100 2100 3100 4100 MINITEST 存儲的數(shù)據(jù)量 應(yīng)用行數(shù)(根據(jù)不同探頭或測試條件而記憶的校準(zhǔn)基礎(chǔ)數(shù)據(jù)數(shù)) 1 1 10 99 每個應(yīng)用行下的組(BATCH)數(shù)(對組內(nèi)數(shù)據(jù)自動統(tǒng)計計算，并可設(shè)寬容度極限值) - 1 10 99 可用各自的日期和時間標(biāo)識特性的組數(shù) - 1 500 500 數(shù)據(jù)總量 1 10000 10000 10000 MINITEST統(tǒng)計計算功能 讀數(shù)的六種統(tǒng)計值x,s,n,max,min,kvar - √ √ √ 讀數(shù)的八種統(tǒng)計值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk - - √ √ 組統(tǒng)計值六種x,s,n,max,min,kvar - - √ √ 組統(tǒng)計值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk - - √ √ 存儲顯示每一個應(yīng)用行下的所有組內(nèi)數(shù)據(jù) - - - √ 分組打印以上顯示和存儲的數(shù)據(jù)和統(tǒng)計值 - - √ √ 顯示并打印測量值、打印的日期和時間 - √ √ √ 其他功能 設(shè)置極限值 - - √ √ 連續(xù)測量模式快速測量，通過模擬柱識別最大最小值 - - √ √ 連續(xù)測量模式中測量穩(wěn)定后顯示讀數(shù) - - √ √ 連續(xù)測量模式中顯示最小值 - - √ √ 可選探頭參數(shù)： 所有探頭都可配合任一主機(jī)使用。在選擇最適用的探頭時需要考慮覆層厚度，基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。 F型探頭：測量鋼鐵基體上的非磁性覆層 N型探頭：測量有色金屬基體上的絕緣覆層 FN兩用探頭：同時具備F型和N性探頭的功能 探頭 量程 低端 分辨率 誤差 最小曲率半徑 (凸/凹) 最小測量 區(qū)域直徑 最小基 體厚度 探頭尺寸 磁 感 應(yīng) 法 F05 0-500um 0.1um ±(1%±0.7um) 1/5mm 3mm 0.2mm φ15x62mm F1.6 0-1600um 0.1um ±(1%±1um) 1.5/10mm 5mm 0.5mm φ15x62mm F1.6/90 0-1600um 0.1um ±(1%±1um) 平面/6mm 5mm 0.5mm φ8x8x170mm F2/90 0-2000um 0.2um ±(1%±1um) 平面/6mm 5mm 0.5mm φ8x8x170mm F3 0-3000um 0.2um ±(1%±1um) 1.5/10mm 5mm 0.5mm φ15x62mm F10 0-10mm 5um ±(1%±10um) 5/16mm 20mm 1mm φ25x46mm F20 0-20mm 10um ±(1%±10um) 10/30mm 40mm 2mm φ40x66mm F50 0-50mm 10um ±(3%±50um) 50/200mm 300mm 2mm φ45x70mm 兩 用 FN1.6 0-1600um 0.1um ±(1%±1um) 1.5/10mm 5mm F0.5mm/N50um φ15x62mm FN1.6P 0-1600um 0.1um ±(1%±1um) 平面 30mm F0.5mm/N50um φ21x89mm FN2 0-2000um 0.2um ±(1%±1um) 1.5/10mm 5mm F0.5mm/N50um φ15x62mm 電 渦 流 法 N02 0-200um 0.1um ±(1%±0.5um) 1/10mm 2mm 50um φ16x70mm N.08Cr 0-80um 0.1um ±(1%±1um) 2.5mm 2mm 100um φ15x62mm N1.6 0-1600um 0.1um ±(1%±1um) 1.5/10mm 2mm 50um φ15x62mm N1.6/90 0-1600um 0.1um ±(1%±1um) 平面/10mm 5mm 50um φ13x13x170mm N2 0-2000um 0.2um ±(1%±1um) 1.5/10mm 5mm 50um φ15x62mm N2/90 0-2000um 0.2um ±(1%±1um) 平面/10mm 5mm 50um φ13x13x170mm N10 0-10mm 10um ±(1%±25um) 25/100mm 50mm 50um φ60x50mm N20 0-20mm 10um ±(1%±50um) 25/100mm 70mm 50um φ65x75mm N100 0-100mm 100um ±(1%±0.3mm) 100mm/平面 200mm 50um φ126x155mm CN02 10-200um 0.2um ±(1%±1um) 平面 7mm 無限制 φ17x80mm F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭，用于管內(nèi)測量。 N.08Cr適合銅上鉻，F(xiàn)N2也適合銅上鉻。 CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。