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鍍層測(cè)厚儀的測(cè)量影響因素

   日期:2012-12-13     來(lái)源:深圳市禾苗分析儀器有限公司    作者:張水生    瀏覽:1135    
核心提示:隨著公司的蓬勃發(fā)展,公司的客戶也朝著多元化、廣泛化的方向發(fā)展。與此同時(shí)用戶朋友尤其是剛剛接觸到我們儀器的用戶朋友,在使用

隨著公司的蓬勃發(fā)展,公司的客戶也朝著多元化、廣泛化的方向發(fā)展。與此同時(shí)用戶朋友尤其是剛剛接觸到我們儀器的用戶朋友,在使用儀器的過(guò)程中總會(huì)遇到這樣或那樣的問(wèn)題。在這里我們以鍍層測(cè)厚儀為例給大家作個(gè)簡(jiǎn)要的講解。
1.為什么儀器有時(shí)測(cè)量不準(zhǔn)確?
這是一個(gè)比較籠統(tǒng)的問(wèn)題。因?yàn)榫蛢x器不準(zhǔn)的原因來(lái)說(shuō)是多種多樣的。單對(duì)鍍層測(cè)厚儀來(lái)說(shuō),全站儀主要有下面幾種原因引起測(cè)量不準(zhǔn)確。
(1)強(qiáng)磁場(chǎng)的干擾。我們?cè)鲞^(guò)一個(gè)簡(jiǎn)單實(shí)驗(yàn),當(dāng)儀器在1萬(wàn)V左右的電磁場(chǎng)附近工作時(shí),測(cè)量會(huì)受到嚴(yán)重的干擾。如果離電磁場(chǎng)非常近時(shí)還有可能會(huì)發(fā)生死機(jī)現(xiàn)象。
(2)人為因素。這中情況經(jīng)常會(huì)發(fā)生在新用戶的身上。鍍層測(cè)厚儀之所以能夠測(cè)量到微米級(jí)就因?yàn)樗軌虿扇〈磐康奈⑿∽兓?,并把它轉(zhuǎn)化成為數(shù)字信號(hào)。在使用儀器測(cè)量過(guò)程中如果用戶對(duì)本儀器不熟悉就可能使探頭偏離被測(cè)機(jī)體,使磁通量發(fā)生變化造成錯(cuò)誤測(cè)量。所以建議用戶朋友初次使用本儀器時(shí),要先掌握好測(cè)量方法。探頭的放置方式對(duì)測(cè)量有很大影響,全站儀在測(cè)量中應(yīng)使探頭與試樣表面保持垂直。并且探頭的放置時(shí)間不宜過(guò)長(zhǎng),以免造成基體本身磁場(chǎng)的干擾。
(3)在系統(tǒng)校準(zhǔn)時(shí)沒(méi)有選擇合適的基體?;w最小平面為7mm,最小厚度為0.2mm,低于此臨界條件測(cè)量是不可靠的。
(4)附著物質(zhì)的影響。本儀器對(duì)那些妨礙探頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感。因此必須清除附著物質(zhì),以保證探頭與覆蓋層表面直接接觸。在進(jìn)行系統(tǒng)校準(zhǔn)時(shí),選擇的基體的表面也必須是裸露的、光滑的。
(5)儀器發(fā)生故障。此時(shí)可以和技術(shù)人員交流或者返廠維修。
 
標(biāo)簽: 鍍層測(cè)厚儀
 
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