EDX2000 X熒光光譜儀
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EDX2000 X熒光光譜儀
詳細(xì)信息 技術(shù)指標(biāo)：
分 析 范 圍: 1PPM-99.99%
同 時(shí) 分 析: 幾十種元素同時(shí)分析
測(cè)鍍層厚度精確至0.01微米
測(cè) 量 對(duì) 象: 固體、粉未、液體
測(cè) 量 時(shí) 間: 60-300 秒
測(cè) 量 精 度 : 0.05%
分 析 元 素: Na-U
工 作 溫 度: 15-26℃
相 對(duì) 濕 度: ≤70%
重 量 : 80KG
功 耗: 200瓦
配 置：
單樣品腔
計(jì)算機(jī)、噴墨打印機(jī)
真空泵（可選）
壓片機(jī)（可選）
硅針半導(dǎo)體探測(cè)器（美國(guó)產(chǎn)）
放大電路（美國(guó)產(chǎn)）
高低壓電源（國(guó)產(chǎn)）
X光管（國(guó)產(chǎn)）
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