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本資料屬于上海璟瑞科學(xué)儀器以下公式起草資料http://www.jryiqi.com/prodetail-2779505.html
一、eva交聯(lián)度測(cè)試儀器與試劑
儀器:
儀器:
1、大口圓底燒瓶及塞子。用磨口或軟木塞連接。如進(jìn)行1~2只樣品測(cè)定以500mL為宜；如進(jìn)行2~3只樣品測(cè)定以1000mL 為宜；如進(jìn)行數(shù)只但不超過(guò)6只則以2000mL的燒瓶較為適用。
2、加熱套或恒溫油槽。要求熱容量足以加沸二甲苯（沸點(diǎn)為135~144°C）。
3、回流冷凝管。帶磨口或以軟木塞和燒瓶連接，冷凝管磨口尺寸與圓底燒瓶的磨口尺寸一致，長(zhǎng)度適當(dāng)。
4、支架和夾子。用于固定燒瓶和冷凝管。
5、真空烘箱。附帶能產(chǎn)生0.87MPa真空度的真空源。
6、120目不銹鋼網(wǎng)
7、精度為1/10000的托盤電子分析天平。
8、干燥器
試劑
1、二甲苯A.R，分析純或化學(xué)純。
2、2，6-二叔丁基-4-甲基苯酚（即抗氧劑264）。
二、實(shí)驗(yàn)方法
分析步驟
1、不銹鋼網(wǎng)袋的制作：
先將不銹鋼網(wǎng)洗凈，晾干，放入100℃左右的烘箱烘干，冷卻后截取35×90mm，對(duì)折成35×45mm的長(zhǎng)方形，兩側(cè)邊折進(jìn)7.5mm釘住，制成頂端開(kāi)口的袋（尺寸約20×45mm），并且要保證折起的兩邊鋼好能被訂書釘釘住，而且做好的試樣袋要能放入燒瓶，尺寸不能太大。稱重量為（W1）。
2、分析操作
將已交聯(lián)過(guò)的EVA膠樣（在不同部位取樣），用剪刀剪成小碎片，在1/10000電子天平式準(zhǔn)確稱取試樣0.1450~0.1500 g準(zhǔn)確到0.0001g，將樣品放入已知重量的120目不銹鋼網(wǎng)袋里，稱（袋和試樣）重（W2）。
＊將袋口折邊釘上，構(gòu)成試樣包，稱（袋和試樣）重（W3）。
＊試樣包用銅絲懸吊在回流裝置的燒瓶中，以二甲苯為溶劑（溶劑要充足，2000mL燒瓶要裝1000g溶劑；1000mL燒瓶要裝500g溶劑）。沸騰回流5h，一般回流速度為20~40滴/分。（為防止試樣的再度交聯(lián)，加入溶劑重量1%左右的抗氧劑）冷卻，取出試樣袋（懸掛起來(lái)，以除去過(guò)量的溶劑）后，再放入真空烘箱（溫度141±20℃，真空度0.8MPa）中烘3h，取出試樣袋于干燥器內(nèi)冷卻15min，取出稱量（W4）。
3計(jì)算
W1：三邊封口一邊開(kāi)口的袋重。
W2：裝有試樣的袋重（三邊封一邊開(kāi)口的袋）
W3：裝有試樣封口的袋重
W4：萃取并干燥后的試樣袋重
4、分析與結(jié)果
通過(guò)多項(xiàng)實(shí)驗(yàn)，結(jié)果顯示，不銹鋼網(wǎng)袋和未交聯(lián)的EVA樹(shù)脂不會(huì)影響此分析方法的準(zhǔn)確性。
萃取時(shí)間5h后，交聯(lián)度變化不大。
交聯(lián)劑用量增加，EVA的交聯(lián)度也會(huì)上升，與實(shí)際工藝吻合。
5、結(jié)語(yǔ)
使用此法，分析數(shù)據(jù)平行，不同試樣的分析數(shù)據(jù)符合它的規(guī)律性，能滿足工藝與應(yīng)用上對(duì)交聯(lián)度測(cè)定的需要，故本法是可行的。
本測(cè)定方法同樣適用于聚烯烴及其共聚物的交聯(lián)度測(cè)定。
2、加熱套或恒溫油槽。要求熱容量足以加沸二甲苯（沸點(diǎn)為135~144°C）。
3、回流冷凝管。帶磨口或以軟木塞和燒瓶連接，冷凝管磨口尺寸與圓底燒瓶的磨口尺寸一致，長(zhǎng)度適當(dāng)。
4、支架和夾子。用于固定燒瓶和冷凝管。
5、真空烘箱。附帶能產(chǎn)生0.87MPa真空度的真空源。
6、120目不銹鋼網(wǎng)
7、精度為1/10000的托盤電子分析天平。
8、干燥器
試劑
1、二甲苯A.R，分析純或化學(xué)純。
2、2，6-二叔丁基-4-甲基苯酚（即抗氧劑264）。
二、實(shí)驗(yàn)方法
分析步驟
1、不銹鋼網(wǎng)袋的制作：
先將不銹鋼網(wǎng)洗凈，晾干，放入100℃左右的烘箱烘干，冷卻后截取35×90mm，對(duì)折成35×45mm的長(zhǎng)方形，兩側(cè)邊折進(jìn)7.5mm釘住，制成頂端開(kāi)口的袋（尺寸約20×45mm），并且要保證折起的兩邊鋼好能被訂書釘釘住，而且做好的試樣袋要能放入燒瓶，尺寸不能太大。稱重量為（W1）。
2、分析操作
將已交聯(lián)過(guò)的EVA膠樣（在不同部位取樣），用剪刀剪成小碎片，在1/10000電子天平式準(zhǔn)確稱取試樣0.1450~0.1500 g準(zhǔn)確到0.0001g，將樣品放入已知重量的120目不銹鋼網(wǎng)袋里，稱（袋和試樣）重（W2）。
＊將袋口折邊釘上，構(gòu)成試樣包，稱（袋和試樣）重（W3）。
＊試樣包用銅絲懸吊在回流裝置的燒瓶中，以二甲苯為溶劑（溶劑要充足，2000mL燒瓶要裝1000g溶劑；1000mL燒瓶要裝500g溶劑）。沸騰回流5h，一般回流速度為20~40滴/分。（為防止試樣的再度交聯(lián)，加入溶劑重量1%左右的抗氧劑）冷卻，取出試樣袋（懸掛起來(lái)，以除去過(guò)量的溶劑）后，再放入真空烘箱（溫度141±20℃，真空度0.8MPa）中烘3h，取出試樣袋于干燥器內(nèi)冷卻15min，取出稱量（W4）。
3計(jì)算
W1：三邊封口一邊開(kāi)口的袋重。
W2：裝有試樣的袋重（三邊封一邊開(kāi)口的袋）
W3：裝有試樣封口的袋重
W4：萃取并干燥后的試樣袋重
4、分析與結(jié)果
通過(guò)多項(xiàng)實(shí)驗(yàn)，結(jié)果顯示，不銹鋼網(wǎng)袋和未交聯(lián)的EVA樹(shù)脂不會(huì)影響此分析方法的準(zhǔn)確性。
萃取時(shí)間5h后，交聯(lián)度變化不大。
交聯(lián)劑用量增加，EVA的交聯(lián)度也會(huì)上升，與實(shí)際工藝吻合。
5、結(jié)語(yǔ)
使用此法，分析數(shù)據(jù)平行，不同試樣的分析數(shù)據(jù)符合它的規(guī)律性，能滿足工藝與應(yīng)用上對(duì)交聯(lián)度測(cè)定的需要，故本法是可行的。
本測(cè)定方法同樣適用于聚烯烴及其共聚物的交聯(lián)度測(cè)定。
EVA交聯(lián)度的測(cè)試方法一
Define:交聯(lián)度是指EVA分子經(jīng)過(guò)交聯(lián)反應(yīng)達(dá)到不溶不熔凝膠固化的程度。
Principle:是將EVA樣品置于二甲苯中萃取，未經(jīng)交聯(lián)的EVA全部溶到二甲苯中，已交聯(lián)的EVA不溶，通過(guò)殘留試樣量與試樣總量的比值確定交聯(lián)度。
Equipmentreagent:
1、儀器裝置及器具
磨口圓底燒瓶、回流冷凝管、電加熱油浴、真空烘箱、不銹鋼絲網(wǎng)袋
2、試劑
二甲苯:A.R級(jí)、2，6-二叔丁基-4-甲基苯酚（抗氧劑264）
Step：
1、試樣制備
取膠膜一塊,將TPT/膠膜/膠膜/玻璃疊合后,按平時(shí)一次固化工藝固化交聯(lián),（或者按廠家工藝要求固化交聯(lián)）將已交聯(lián)好的膠膜剪成小碎片待用.
2、不銹鋼絲網(wǎng)袋（120目）制備
1洗凈，晾干，放入100℃左右的烘箱烘干，冷卻。
2剪取80mm×40mm,對(duì)折成40mm正方形,兩側(cè)對(duì)折進(jìn)6mm后固定,制成頂端開(kāi)口的袋。稱重為W1。
3、試驗(yàn)步驟
1取試樣0.5g±0.01g,放入不銹鋼絲網(wǎng)袋中,稱重為W2。
2封住袋口作成試樣包,并稱重為W3。
3 試樣包用細(xì)銅絲懸吊在回流冷凝管下的燒瓶中,燒瓶?jī)?nèi)加入1/2二甲苯溶劑,加熱到140℃左右,溶劑沸騰回流5h～6h時(shí) ,回流速度保持20滴/分～40滴/分.
4冷卻取出試樣包,懸掛除去溶劑液滴,然后放入真空烘箱內(nèi),溫度控制在140℃,真空度為0.08Mpa,干燥3h,完全除去溶劑.
5將試樣包從真空烘箱內(nèi)取出,放置干燥器中冷卻20min后,取出稱重為W4精確到0.01g
結(jié)果計(jì)算 C=[1-（W3-W4）/（W2-W1）]×100 式中:
C—交聯(lián)度% W1—空袋重量g
W2—裝有試樣的袋重g W3—試樣包重g
W4—經(jīng)溶劑萃取和干燥后的試樣包重g
分析與結(jié)果
本標(biāo)準(zhǔn)采用下列定義
3.1
式中
表觀壽命filament life(;、
光電導(dǎo)電壓衰減到初始值的1;。時(shí)的時(shí)間常數(shù)"(ps)，用公式(1)表Y
△V 二 AV e xp (一 t' r ) ·· ? ，.門 日.時(shí) 鉀·· ··· ··· ··· ·? ? ( 1
AV AV 光電浮電壓.V;
光電導(dǎo)電壓的峰值或初始值,V:
，-一一時(shí)問(wèn)，“、
r,. 表觀壽命.1-
4 方法提要
4. 1 方法A— 在兩端面為研磨表而并具有歐姆接觸的單一導(dǎo)電類型的半導(dǎo)體單品試樣I通直流電流，用示波器觀察試樣!的電壓降對(duì)試樣施一脈沖光，在試樣中產(chǎn)生非平衡少數(shù)載流子，同時(shí)觸發(fā)波器掃描。從脈沖光停止起電壓衰減的時(shí)間常數(shù)可由示波器掃描測(cè)得當(dāng)試樣中電導(dǎo)率調(diào)幅I仁常小日寸，所觀察到的電壓衰減等價(jià)于光生載流子的衰減，因此電壓衰減的時(shí)間常數(shù)就等于非平衡少數(shù)載流子晨減的時(shí)問(wèn)常數(shù)，少數(shù)載流子壽命即由該時(shí)間系數(shù)確定必要時(shí)，應(yīng)消除陷阱效應(yīng)和對(duì)表向復(fù)合及過(guò)址電導(dǎo)率調(diào)幅進(jìn)行修正
4. 2 方法s— 本方法只適用于硅。光源為斬切光而非脈沖光，其他與方法n相同光源波長(zhǎng)為
1.0- 1 .1k m本方法需滿足小注入條件以避免過(guò)量電導(dǎo)率調(diào)幅的影響。信號(hào)進(jìn)入示波器以前可對(duì)信號(hào)進(jìn)行調(diào)節(jié)，對(duì)表面復(fù)合需進(jìn)行修正
本方 法 不 適用于測(cè)試條件卜呈十指數(shù)規(guī)律變化信號(hào)的試樣
5 意義和用途
本標(biāo) 準(zhǔn) 只 適用于研究、開(kāi)發(fā)和過(guò)程控制，不適用于拋光片的驗(yàn)收測(cè)試對(duì)于一般非仲裁性的測(cè)試‘可使用本標(biāo)準(zhǔn)的附錄n
6 干擾因素
6.1 陷阱效應(yīng)影響
室溫 卜的 硅和低溫狀況下的鍺，載流子陷阱會(huì)產(chǎn)生影響。如果試樣中存在電子或空穴陷阱.脈沖光停止后，非平衡少數(shù)載流子將保持較高濃度并維持相當(dāng)長(zhǎng)一段時(shí)間，光電導(dǎo)衰減曲線會(huì)出現(xiàn)一條民長(zhǎng)的尾巴在這段衰減曲線卜進(jìn)行測(cè)量將錯(cuò)誤地導(dǎo)致壽命值增大
6.1.1 沿衰減曲線進(jìn)一步延伸.由高端至低端進(jìn)行測(cè)量，若時(shí)間常數(shù)增加，可判定存在陷I湃效應(yīng)(消除方法見(jiàn)10.1.9)
6門.2 當(dāng)試樣中陷阱效應(yīng)超過(guò)衰減曲線總幅度的s環(huán)(方法A)或衰減曲線呈柞指數(shù)規(guī)律變化時(shí)〔方法B)就不能用本方法測(cè)量少數(shù)載流子壽命
6.2 表面復(fù)合影響
6.2.1 表面復(fù)合會(huì)影響壽命測(cè)量，特別是使用小塊試樣時(shí)。表3給出了推薦試樣尺寸對(duì)應(yīng)的表Iil復(fù)合率.在“計(jì)勇”一章中也給出了表面復(fù)合修IF的一般公式當(dāng)試樣表面積與體積之比很大時(shí).吏石必要進(jìn)
行修正
6.2.2 若對(duì)表面復(fù)合修正太大，會(huì)嚴(yán)重降低測(cè)敏的準(zhǔn)確性建漢對(duì)測(cè)量值的修正不要超過(guò)測(cè)I,l.俏倒數(shù)的t/z(Pp表觀壽命須大于體壽命的一半，或表面復(fù)合率不大于休壽命的倒數(shù)，見(jiàn)土戶壯公式(1 標(biāo)盯頭形試個(gè)刊聽(tīng)測(cè)定的最人體壽命值列于表藝GB/T 1553一1997表3 表而復(fù)合率R材料類型八}ttj 13 類型〔介﹃﹃價(jià)口口口樸P型鍺n型鍺p型硅n型0. 032 300.015 750. 011 200.00420
6.3 注入量的影響測(cè)量 時(shí) 試 樣電導(dǎo)率調(diào)幅必須很小，這樣試樣卜電勢(shì)差的衰減才等價(jià)于光生載流子的衰減
6.3門方法A:當(dāng)試樣上最大直流電壓調(diào)幅AV,),/V,超過(guò)0.01時(shí)，允許進(jìn)行修正
6.3.2 方法1i不允許作這種修正此處小注入條件是指在連續(xù)光照F穩(wěn)定存ti -T試樣中1t入的少數(shù)載流子濃度與平衡的多數(shù)載流子濃度之比小于。.加1〔見(jiàn)10.2. 10 )o 若光注人小能降低到小注入值‘試樣就不宜用本方法測(cè)量
6.4 光生伏特效應(yīng)影響
試 樣 電 阻率不均勻會(huì)產(chǎn)生使衰減信號(hào)扭曲的光電壓一一光生伏特效應(yīng)方法八和方法B(見(jiàn)10.1.5和10.2.6)都給出了判定是否存在這種光生電壓的方法在沒(méi)有電流通過(guò)時(shí)就呈現(xiàn)光電壓的試樣不適宜用本方法測(cè)量。
6.5 光源波長(zhǎng)的影響
光生 載 流 子大幅度衰減會(huì)影響曲線的形狀尤其在衰減初期使用脈沖光時(shí)，這種現(xiàn)象更為顯著。因?yàn)槊}沖光源比斬切光源注入的載流子初始濃度一致性差，方法A耍求使用濾光片以增加注入載流子濃度的一致性，并在衰減曲線峰值逐漸減弱之后進(jìn)行測(cè)量。
6.6 電場(chǎng)影響
如果 少 數(shù) 載流子被電流產(chǎn)生的電場(chǎng)掃出試祥的一端.少數(shù)載流子就不會(huì)形成衰減曲線。因此‘兩種方法都需要用，塊擋光板遮擋試樣端面，使測(cè)試中掃出效應(yīng)不顯著。
6.了溫度影響
半 導(dǎo)體 中 雜質(zhì)的復(fù)合特性受溫度強(qiáng)烈影響，控制測(cè)量時(shí)的溫度就相當(dāng)重要。在相同溫度下進(jìn)行的測(cè)量才可以作比較
6.8 雜質(zhì)復(fù)合中心影響
不同 的 雜 質(zhì)中心具有不同的復(fù)合特性，當(dāng)試樣中存在一種以上類型的復(fù)合中心時(shí)·觀察到的衰減曲線可能包含兩個(gè)或多個(gè)具有不同時(shí)問(wèn)常數(shù)的指數(shù)曲線，諸曲線合成結(jié)果也不呈指數(shù)規(guī)律，測(cè)量不能得出單一壽命值C光片的影響
濾光片本身有信號(hào)，它和試樣信號(hào)疊加產(chǎn)生測(cè)試誤差因此應(yīng)選擇厚度1 nim,與被測(cè)試樣材料相信號(hào)較弱(低壽命值)的濾光片
試劑和材料
目︺月、
已同
了.1 純水
25 C 時(shí) 電阻率大于2M O.cm的去離子水。
7.2 研磨材料
氧化 鋁 粉 ，顆粒范圍為5^1 2.Fm
7.3 歐姆接觸材料
在試 樣 端 面應(yīng)形成歐姆接觸，可使用鎳、鍺或金電鍍?cè)?，要避免銅沾污，對(duì)硅試樣.可用一小滴3i滴在金剛砂布上，并使用加熱盤將試樣加熱至35 Co
Define:交聯(lián)度是指EVA分子經(jīng)過(guò)交聯(lián)反應(yīng)達(dá)到不溶不熔凝膠固化的程度。
Principle:是將EVA樣品置于二甲苯中萃取，未經(jīng)交聯(lián)的EVA全部溶到二甲苯中，已交聯(lián)的EVA不溶，通過(guò)殘留試樣量與試樣總量的比值確定交聯(lián)度。
Equipmentreagent:
1、儀器裝置及器具
磨口圓底燒瓶、回流冷凝管、電加熱油浴、真空烘箱、不銹鋼絲網(wǎng)袋
2、試劑
二甲苯:A.R級(jí)、2，6-二叔丁基-4-甲基苯酚（抗氧劑264）
Step：
1、試樣制備
取膠膜一塊,將TPT/膠膜/膠膜/玻璃疊合后,按平時(shí)一次固化工藝固化交聯(lián),（或者按廠家工藝要求固化交聯(lián)）將已交聯(lián)好的膠膜剪成小碎片待用.
2、不銹鋼絲網(wǎng)袋（120目）制備
1洗凈，晾干，放入100℃左右的烘箱烘干，冷卻。
2剪取80mm×40mm,對(duì)折成40mm正方形,兩側(cè)對(duì)折進(jìn)6mm后固定,制成頂端開(kāi)口的袋。稱重為W1。
3、試驗(yàn)步驟
1取試樣0.5g±0.01g,放入不銹鋼絲網(wǎng)袋中,稱重為W2。
2封住袋口作成試樣包,并稱重為W3。
3 試樣包用細(xì)銅絲懸吊在回流冷凝管下的燒瓶中,燒瓶?jī)?nèi)加入1/2二甲苯溶劑,加熱到140℃左右,溶劑沸騰回流5h～6h時(shí) ,回流速度保持20滴/分～40滴/分.
4冷卻取出試樣包,懸掛除去溶劑液滴,然后放入真空烘箱內(nèi),溫度控制在140℃,真空度為0.08Mpa,干燥3h,完全除去溶劑.
5將試樣包從真空烘箱內(nèi)取出,放置干燥器中冷卻20min后,取出稱重為W4精確到0.01g
結(jié)果計(jì)算 C=[1-（W3-W4）/（W2-W1）]×100 式中:
C—交聯(lián)度% W1—空袋重量g
W2—裝有試樣的袋重g W3—試樣包重g
W4—經(jīng)溶劑萃取和干燥后的試樣包重g
分析與結(jié)果
本標(biāo)準(zhǔn)采用下列定義
3.1
式中
表觀壽命filament life(;、
光電導(dǎo)電壓衰減到初始值的1;。時(shí)的時(shí)間常數(shù)"(ps)，用公式(1)表Y
△V 二 AV e xp (一 t' r ) ·· ? ，.門 日.時(shí) 鉀·· ··· ··· ··· ·? ? ( 1
AV AV 光電浮電壓.V;
光電導(dǎo)電壓的峰值或初始值,V:
，-一一時(shí)問(wèn)，“、
r,. 表觀壽命.1-
4 方法提要
4. 1 方法A— 在兩端面為研磨表而并具有歐姆接觸的單一導(dǎo)電類型的半導(dǎo)體單品試樣I通直流電流，用示波器觀察試樣!的電壓降對(duì)試樣施一脈沖光，在試樣中產(chǎn)生非平衡少數(shù)載流子，同時(shí)觸發(fā)波器掃描。從脈沖光停止起電壓衰減的時(shí)間常數(shù)可由示波器掃描測(cè)得當(dāng)試樣中電導(dǎo)率調(diào)幅I仁常小日寸，所觀察到的電壓衰減等價(jià)于光生載流子的衰減，因此電壓衰減的時(shí)間常數(shù)就等于非平衡少數(shù)載流子晨減的時(shí)問(wèn)常數(shù)，少數(shù)載流子壽命即由該時(shí)間系數(shù)確定必要時(shí)，應(yīng)消除陷阱效應(yīng)和對(duì)表向復(fù)合及過(guò)址電導(dǎo)率調(diào)幅進(jìn)行修正
4. 2 方法s— 本方法只適用于硅。光源為斬切光而非脈沖光，其他與方法n相同光源波長(zhǎng)為
1.0- 1 .1k m本方法需滿足小注入條件以避免過(guò)量電導(dǎo)率調(diào)幅的影響。信號(hào)進(jìn)入示波器以前可對(duì)信號(hào)進(jìn)行調(diào)節(jié)，對(duì)表面復(fù)合需進(jìn)行修正
本方 法 不 適用于測(cè)試條件卜呈十指數(shù)規(guī)律變化信號(hào)的試樣
5 意義和用途
本標(biāo) 準(zhǔn) 只 適用于研究、開(kāi)發(fā)和過(guò)程控制，不適用于拋光片的驗(yàn)收測(cè)試對(duì)于一般非仲裁性的測(cè)試‘可使用本標(biāo)準(zhǔn)的附錄n
6 干擾因素
6.1 陷阱效應(yīng)影響
室溫 卜的 硅和低溫狀況下的鍺，載流子陷阱會(huì)產(chǎn)生影響。如果試樣中存在電子或空穴陷阱.脈沖光停止后，非平衡少數(shù)載流子將保持較高濃度并維持相當(dāng)長(zhǎng)一段時(shí)間，光電導(dǎo)衰減曲線會(huì)出現(xiàn)一條民長(zhǎng)的尾巴在這段衰減曲線卜進(jìn)行測(cè)量將錯(cuò)誤地導(dǎo)致壽命值增大
6.1.1 沿衰減曲線進(jìn)一步延伸.由高端至低端進(jìn)行測(cè)量，若時(shí)間常數(shù)增加，可判定存在陷I湃效應(yīng)(消除方法見(jiàn)10.1.9)
6門.2 當(dāng)試樣中陷阱效應(yīng)超過(guò)衰減曲線總幅度的s環(huán)(方法A)或衰減曲線呈柞指數(shù)規(guī)律變化時(shí)〔方法B)就不能用本方法測(cè)量少數(shù)載流子壽命
6.2 表面復(fù)合影響
6.2.1 表面復(fù)合會(huì)影響壽命測(cè)量，特別是使用小塊試樣時(shí)。表3給出了推薦試樣尺寸對(duì)應(yīng)的表Iil復(fù)合率.在“計(jì)勇”一章中也給出了表面復(fù)合修IF的一般公式當(dāng)試樣表面積與體積之比很大時(shí).吏石必要進(jìn)
行修正
6.2.2 若對(duì)表面復(fù)合修正太大，會(huì)嚴(yán)重降低測(cè)敏的準(zhǔn)確性建漢對(duì)測(cè)量值的修正不要超過(guò)測(cè)I,l.俏倒數(shù)的t/z(Pp表觀壽命須大于體壽命的一半，或表面復(fù)合率不大于休壽命的倒數(shù)，見(jiàn)土戶壯公式(1 標(biāo)盯頭形試個(gè)刊聽(tīng)測(cè)定的最人體壽命值列于表藝GB/T 1553一1997表3 表而復(fù)合率R材料類型八}ttj 13 類型〔介﹃﹃價(jià)口口口樸P型鍺n型鍺p型硅n型0. 032 300.015 750. 011 200.00420
6.3 注入量的影響測(cè)量 時(shí) 試 樣電導(dǎo)率調(diào)幅必須很小，這樣試樣卜電勢(shì)差的衰減才等價(jià)于光生載流子的衰減
6.3門方法A:當(dāng)試樣上最大直流電壓調(diào)幅AV,),/V,超過(guò)0.01時(shí)，允許進(jìn)行修正
6.3.2 方法1i不允許作這種修正此處小注入條件是指在連續(xù)光照F穩(wěn)定存ti -T試樣中1t入的少數(shù)載流子濃度與平衡的多數(shù)載流子濃度之比小于。.加1〔見(jiàn)10.2. 10 )o 若光注人小能降低到小注入值‘試樣就不宜用本方法測(cè)量
6.4 光生伏特效應(yīng)影響
試 樣 電 阻率不均勻會(huì)產(chǎn)生使衰減信號(hào)扭曲的光電壓一一光生伏特效應(yīng)方法八和方法B(見(jiàn)10.1.5和10.2.6)都給出了判定是否存在這種光生電壓的方法在沒(méi)有電流通過(guò)時(shí)就呈現(xiàn)光電壓的試樣不適宜用本方法測(cè)量。
6.5 光源波長(zhǎng)的影響
光生 載 流 子大幅度衰減會(huì)影響曲線的形狀尤其在衰減初期使用脈沖光時(shí)，這種現(xiàn)象更為顯著。因?yàn)槊}沖光源比斬切光源注入的載流子初始濃度一致性差，方法A耍求使用濾光片以增加注入載流子濃度的一致性，并在衰減曲線峰值逐漸減弱之后進(jìn)行測(cè)量。
6.6 電場(chǎng)影響
如果 少 數(shù) 載流子被電流產(chǎn)生的電場(chǎng)掃出試祥的一端.少數(shù)載流子就不會(huì)形成衰減曲線。因此‘兩種方法都需要用，塊擋光板遮擋試樣端面，使測(cè)試中掃出效應(yīng)不顯著。
6.了溫度影響
半 導(dǎo)體 中 雜質(zhì)的復(fù)合特性受溫度強(qiáng)烈影響，控制測(cè)量時(shí)的溫度就相當(dāng)重要。在相同溫度下進(jìn)行的測(cè)量才可以作比較
6.8 雜質(zhì)復(fù)合中心影響
不同 的 雜 質(zhì)中心具有不同的復(fù)合特性，當(dāng)試樣中存在一種以上類型的復(fù)合中心時(shí)·觀察到的衰減曲線可能包含兩個(gè)或多個(gè)具有不同時(shí)問(wèn)常數(shù)的指數(shù)曲線，諸曲線合成結(jié)果也不呈指數(shù)規(guī)律，測(cè)量不能得出單一壽命值C光片的影響
濾光片本身有信號(hào)，它和試樣信號(hào)疊加產(chǎn)生測(cè)試誤差因此應(yīng)選擇厚度1 nim,與被測(cè)試樣材料相信號(hào)較弱(低壽命值)的濾光片
試劑和材料
目︺月、
已同
了.1 純水
25 C 時(shí) 電阻率大于2M O.cm的去離子水。
7.2 研磨材料
氧化 鋁 粉 ，顆粒范圍為5^1 2.Fm
7.3 歐姆接觸材料
在試 樣 端 面應(yīng)形成歐姆接觸，可使用鎳、鍺或金電鍍?cè)?，要避免銅沾污，對(duì)硅試樣.可用一小滴3i滴在金剛砂布上，并使用加熱盤將試樣加熱至35 Co
8 測(cè)試儀器
Mol試電路圖脈沖(方法A)或斬切(方法B)光源，光源須在光強(qiáng)從最大值減小到其10%時(shí)關(guān)斷，或關(guān)斷時(shí)間小于， 門產(chǎn)a c。測(cè)試樣壽命時(shí)間的1/5或更少。用于硅試樣測(cè)量的光源光譜分布的最大值應(yīng)在波長(zhǎng)范圍1. 0-1.1 p m以內(nèi)。
8.2.1 方法A- Al閃光管或放電管，配備。01 fF的電容器U及可提供頻率為2-60 Hz脈沖的高壓電源光源應(yīng)在。3k s內(nèi)達(dá)到最大光強(qiáng)，并在小于。.5 k s內(nèi)光強(qiáng)由最大值下降不大于5% 采用更小的電容可獲得更短的脈沖寬度，適合測(cè)量表觀壽命低于5ks的試樣
8.2.2 方法B- 脈沖發(fā)生器光源，用以產(chǎn)生周期性方波光脈沖，脈沖幅度、高度和間隔應(yīng)單獨(dú)可調(diào)，脈沖寬度和間隔的可調(diào)范圍最少應(yīng)在5-20 lxs之間，光源最高輻射能應(yīng)足夠大，測(cè)量信號(hào)最小不低于1 mV;光脈沖上升沿和下降沿兩個(gè)時(shí)間系數(shù)均應(yīng)小于被測(cè)最低表觀壽命值的1/5。脈沖發(fā)生器還應(yīng)為信號(hào)調(diào)節(jié)器和示波器提供觸發(fā)信號(hào)。
注: 具 有 所提供特性的光源是一個(gè)發(fā)光二極管(LED)，其關(guān)斷時(shí)間約為。.1 ,p 此外，用機(jī)械轉(zhuǎn)動(dòng)法把光斬切為頻率 15 H z ,4 5H z 或 77H :的A6 -V, 8- A鎢帶狀燈絲燈，適用于表觀壽命不小干5J..,的測(cè)量。
83 電源
電源 應(yīng) 穩(wěn) 定并經(jīng)過(guò)良好濾波，應(yīng)在試樣上產(chǎn)生不低于5V的直流電壓。電路中的串聯(lián)電阻R,值至少是試樣電阻R及接觸電阻R。之和的2。倍，電路中還應(yīng)有對(duì)試樣電流換向及切斷電流的開(kāi)關(guān)裝置
8.4 試樣夾具及恒溫器
隔熱 試 樣 夾具及恒溫器應(yīng)使試樣處于規(guī)定溫度27士1七，夾具與試樣的整個(gè)端面應(yīng)保持歐姆接觸.
并至少應(yīng)使試樣四個(gè)側(cè)面中的一個(gè)側(cè)面處于光照下注 制 作 與試樣端面成歐姆接觸的試樣夾具的方法較多，建議使用金屬帶或纖維的壓力接觸，也可用厚鉛板或im板
8.5 濾光片
濾光 片 應(yīng) 雙面拋光，由與試樣相同的材料制成.厚度為1m m，直接放置在矩形窗孔膜片的上方(僅用于方法A，見(jiàn)8.5)
86 矩形窗孔膜片放置 于 靠 近試樣的光照表面，光透過(guò)矩形窗孔膜片，只能照射到試樣的部分區(qū)域?qū)Ψ椒ˋ，光照區(qū)域是長(zhǎng)度L,=L%2寬度W;= W/ 2;對(duì)方法B，光照區(qū)域是長(zhǎng)度L;=3.。士。.1 m m,寬度W二W 兩種方光 照 部 位都在試樣中央位置
8，7 電信號(hào)測(cè)量線路
8.了.1 前置放大器— 具有可調(diào)的高、低頻頻帶范圍.低頻截止頻率從。.3 H- 30 Hz可調(diào)。
8.了.2 信號(hào)調(diào)節(jié)器— 脈沖取樣均衡器或波形整形器，用于改善小信號(hào)時(shí)的信噪比僅用于方法B為保證小注入條件而減少光照時(shí)采用。
8.7.3 示波器— 具有合適的時(shí)間掃描和信號(hào)靈敏度及經(jīng)校準(zhǔn)的時(shí)間基線，其精度和線性度都優(yōu)于3%，并能被試驗(yàn)信號(hào)或外部信號(hào)觸發(fā)，還應(yīng)配備有助于分析衰減曲線的透明屏幕，其要求如下
a) 對(duì) 方 法A,規(guī)定屏幕尺寸在10cmx10cm以內(nèi)一該尺寸有利于減小視差。
4 對(duì)電路總體要求:
a)校正垂直掃描靈敏度至。.1 mv/cm或更好;
b)校正垂直增益和掃描線性度在3%以內(nèi);
c)響應(yīng)時(shí)間輸人信號(hào)以步進(jìn)方式變化時(shí)，輸出信號(hào)的衰減不超過(guò)所測(cè)最小表觀壽命值的1/5
d)脈沖沒(méi)有明顯的變壞現(xiàn)象，如過(guò)沖或阻尼效應(yīng)。
研 磨設(shè)備
8.9
8.10
能把試樣的所有表面加工成光滑、平整的表面。
清洗和干燥設(shè)備
可用水沖洗或超聲清洗。干燥設(shè)備提供干燥氮?dú)獯蹈稍嚇印?br /> 試樣 尺寸測(cè)量工具
精度為。.01 m m的千分尺或游標(biāo)卡尺。
9.1
試樣制備
從晶 體上指定區(qū)域切取試樣，長(zhǎng)度為L(zhǎng),厚度為T.寬度為W，如表1所示對(duì)方法B,推薦使用尺
寸類型B和類型C,測(cè)量、記錄所有尺寸，精確到0.1 m m}
注 :較 低 壽命值的材料側(cè)量宜使用較小尺寸的試樣直拉硅單晶的側(cè)量大都使用類型 B,而區(qū)熔硅單晶的測(cè) WE建議
采 用類 型 C。
9.2 測(cè)量前，用氧化鋁粉研磨試樣使試樣的六個(gè)表面成為平整的磨面
9.3 將研磨后的試樣用超聲情洗或用水沖洗，用干燥氮?dú)獯蹈稍嚇佣嗣鎽?yīng)清潔于凈.有利形成;e% 1`t
歐姆接觸
9.4 在試樣的兩個(gè)整個(gè)端面上制作歐姆接觸
注 推 薦 在鍺試樣的端面鍍鎳、鍺或金，鍍膜過(guò)程中應(yīng)避免銅沾污;對(duì)硅試樣最好辦法是把試樣加熱到as(. ('i}研
磨端 面 ， 防 止滴 在 金 剛砂布上的稼形成錦污點(diǎn)也可在n型硅試樣端面鍍鎳，在pttj硅試樣端面鍍銘-
9.5 如果試樣導(dǎo)電類型是未知的，可按GB/T 1550測(cè)定
9.6 測(cè)試接觸點(diǎn):
9.6.1 將試樣置于夾具中，以一個(gè)方向接通電流，在試樣上形成2--5 V的電壓，記錄該電壓降10
9.6.2 改變電流方向.記錄試樣r.電壓降V,
9.6.3 如果v一與v 的差小于5寫，則試樣具有歐姆接觸
9.7 按GB/T 1551測(cè)量和記錄并修正其至27 C時(shí)的電阻率
10 測(cè)量步驟
10.1 方法A一一脈沖光方法
10.11 用試樣夾具夾緊試樣，定位于膜片的矩形窗孔處.使試樣的中央處于光照F.,測(cè)量并記錄試祥
夾具的溫度，取值士1C
10.1.2 開(kāi)啟光源，將前置放大器與示波器接通
10,1.3 接通電源，調(diào)整電流，在試樣上產(chǎn)生2一5V電壓。
怕.1.4 使觀察到的衰減曲線與畫在示波器透明屏上的標(biāo)準(zhǔn)指數(shù)曲線一致(見(jiàn)8.7.3,)).方法如F
a) 調(diào) 節(jié)垂 直位移旋鈕，使觀察到的衰減曲線的基線與標(biāo)準(zhǔn)指數(shù)曲線的基線重合調(diào)節(jié)時(shí)間基準(zhǔn)掃
描速度于一較低值，使屏幕橫向上出現(xiàn)多個(gè)衰減曲線，以易于調(diào)節(jié)
b) 延 長(zhǎng) 時(shí)間基準(zhǔn)以產(chǎn)生一個(gè)單周期信號(hào)圖樣，調(diào)節(jié)水平位移、垂直放大和時(shí)間基準(zhǔn)掃描速度，直到
觀察到的曲線與標(biāo)準(zhǔn)指數(shù)曲線盡可能吻合，脈沖峰值△V,與標(biāo)準(zhǔn)曲線左邊L方點(diǎn)致
10-1.5 側(cè)試試徉是否存在光生伏特效應(yīng):關(guān)斷電流，保留光照，其他旋鈕不動(dòng)，觀察示波器是否檢測(cè)到
一個(gè) 光電壓信號(hào)如果檢測(cè)到一個(gè)超過(guò)脈沖峰值1%的信號(hào)，則試樣中存在光生伏特效應(yīng).該試樣不適
合用 本方法測(cè)量
10-1.6 若未觀察到上述光電壓信號(hào)且衰減曲線呈純指數(shù)曲線，則可由(3)式確定表觀壽命rFC}s );
7r = 2. 5 ·S , ··· ·· ··· ··· ·· ·· ··· ··· ·? ? ( 3 、
式中:S,-一時(shí)間基準(zhǔn)掃描速度，Ks/c mo
10.17 若示波器時(shí)間基準(zhǔn)未經(jīng)校準(zhǔn)，則標(biāo)準(zhǔn)指數(shù)曲線不適用，表觀壽命可如下確定:旋轉(zhuǎn)時(shí)間基準(zhǔn)掃
描速度至一合適分度值S,(Ps/cm),測(cè)量衰減曲線t任意兩點(diǎn)間幅度比為2: 7 的水平距離M(cm),由
(仲 式計(jì)算TF
介 一 1. 4 411 俗 ·· ··· ··· ··· ··· ··· ··· ··· ·? ? ( 4 )
當(dāng)不 其 備 屏 幕 標(biāo)準(zhǔn)曲線(見(jiàn)8.7. 3a ))時(shí)，也可用該步驟
10. 1.8 當(dāng)觀察到的屏幕衰減曲線呈非純指數(shù)曲線但接近t"純指數(shù)曲線時(shí)，表觀壽命可由曲線低端的
幾對(duì) 點(diǎn)確定
a) 若 試 樣 的 一半或少于一半的寬度已受光照，表觀壽命從信號(hào)衰減到其峰值的60/以后的曲線部
分來(lái) 測(cè)定;
b) 若 試 樣 一半 以t的寬度已受光照，表觀壽命從信號(hào)衰減到其峰值的25%以后的曲線部分來(lái)測(cè)
定 :
。〕 L 述 兩 種 情況都要增加垂直增益以延長(zhǎng)衰減曲線使指定部分達(dá)到屏幕垂直滿刻度，調(diào)節(jié)時(shí)問(wèn)
縫準(zhǔn) 掃描到一合適分度值S2(ks/cm)，使衰減曲線的指定部分盡可能達(dá)到屏幕水平滿ail度，測(cè)峨曲線t
幅度 比為2:1的任意兩點(diǎn)間水平距離M(cm),由(5)式計(jì)算表觀壽命:
TF.、 一 1 .4 4M S ,. ·
重復(fù) 卜述 過(guò)程兩遍以卜，得到=F=,=Fs等;
d) 確 定 和記錄平均表觀壽命:F，即rF，的平均值。若rp;之問(wèn)差值超過(guò)切% 則該試樣不適合用術(shù)方
法測(cè)址
l: 特 別 是在p型硅的情況卜壽命隨載流子濃度雨數(shù)變化非常迅速，在寬范圍內(nèi)取得的平均仇生的1吳差可能很
大
10門9 試樣是否存在陷阱效應(yīng)由表觀壽命值的變化來(lái)確定。諸壽命值從小J幾衰減曲線峰值(}L'>)的
25%的曲線部分來(lái)測(cè)定。若壽命值在沿曲線更低處測(cè)量時(shí)反而增加，則存在陷阱把試樣加熱到5。嚴(yán)-
刊C或用一穩(wěn)定的本底光照射試樣，可消除陷阱效應(yīng)若陷阱的影響超過(guò)曲線總幅度的5%，則該試桿
不適于用本方法測(cè)量。
10.1門0 檢查是否滿足掃出條件
a) 關(guān) 斷 光源，測(cè)量試樣上直流電壓V,;
b) 計(jì) 算 V*與:r的積，若乘積不大于表4給出的對(duì)應(yīng)常數(shù)，則滿足掃出條件，即掃出效應(yīng)不顯著，進(jìn)
行10. 1. 11操作;
c) 表 4 給出的常數(shù)，僅用于推薦長(zhǎng)度的試樣，其他長(zhǎng)度的試樣，其條件由(6)式給出:
Va c· r, 毛 3 0L /p
式中:1.— 試樣長(zhǎng)度·mm;
k— 少 數(shù)載 流 子遷移率，cm,/V ·s(見(jiàn)表4);
rF— 表 觀壽命，has
d) 若 不 滿足掃出條件，可降低試樣電流來(lái)減小V, 這將會(huì)改變曲線形狀.1F值也將發(fā)生變化
。) 重 復(fù)從 10.1.4- 10.1.10d)的操作，直至:F值是一個(gè)常數(shù)且滿足掃出條件。
表 4 少 數(shù) 載 流 子 遷 移 率 與 方 法 A推薦試樣長(zhǎng)度對(duì)應(yīng)的掃出條件常數(shù)
材料遷移率,cm'/V.; 類型A 類型B和C
p型鍺
n型鍺
p型硅
n型硅
7.3
飛1
12
2眨)
12
土8
藝O
只只
0 0 0 0
8 8 魂47
10.1.11
10. 1.11.1
10. 1.11. 2
10.1.11. 3
檢查是否滿足小注入條件
用與 滿足掃出條件相同的電流值.開(kāi)啟光源.測(cè)量脈沖峰值,w
若 △叭/叭鎮(zhèn)0.01，則滿足小注入條件.進(jìn)行“計(jì)算”.
若 △vo/v,>0.01，則按(7)式修正表觀壽命
10.1IT.f
二T'.-,C1 一(AVIly )〕
(6)
門
習(xí)
(7)
式中:r曰〕肥肥— 飛。.1.6中測(cè)量或
表觀壽命修正值
7中計(jì)算的表觀壽命值;
10.2
10.2.1
溫度
10-2.2
10.2.3
方法is一一斬切光方法
用夾 具夾緊試樣于定位膜片矩形窗孔處，使試樣中央位置處于光照「.測(cè)量并記錄試樣夾具的
開(kāi)啟光源連接前置放大器與示波器
接通電源并調(diào)節(jié)電流，使試樣上產(chǎn)生2---5 v電壓，調(diào)節(jié)脈沖幅度、示波器垂直增益及掃描速度
旋鈕，使示波器上出現(xiàn)幾個(gè)單周期信號(hào)。
10-2.4 調(diào)節(jié)脈沖寬度，使脈沖幅度達(dá)到飽和值△v 在脈沖關(guān)斷之前同時(shí)調(diào)節(jié)脈沖截止時(shí)間.使信勺
到達(dá)兩個(gè)脈沖間的基線(直流電壓值)
10.2. 5 調(diào)節(jié)T波器掃描速度旋鈕、電流及脈沖幅度，使示波器屏幕上出現(xiàn)的單周期信號(hào)圖形具了聲洲檢測(cè)對(duì)象 儀器名稱
光伏組件 絕緣耐壓測(cè)試儀
熱循環(huán)-濕熱-濕凍試驗(yàn)機(jī)
機(jī)械載荷試驗(yàn)機(jī)
冰雹撞擊試驗(yàn)機(jī)
紫外預(yù)處理試驗(yàn)機(jī)
鹽霧腐蝕試驗(yàn)箱
熱斑耐久/光老練/預(yù)衰減試驗(yàn)機(jī)
EVA檢測(cè)儀器 EVA交聯(lián)度測(cè)試系統(tǒng)
剝離強(qiáng)度試驗(yàn)機(jī)
表面張力儀
EVA封裝模
TPT檢測(cè)儀器 抗劃傷試驗(yàn)機(jī)
透氣/透濕性測(cè)試儀
電荷測(cè)量?jī)x
絨面鋼化玻璃檢測(cè)儀器 透光率/霧度測(cè)定儀
彎曲度測(cè)試儀
落球沖擊試驗(yàn)機(jī)
應(yīng)力測(cè)試儀
霰彈撞擊試驗(yàn)機(jī)
涂錫焊帶檢測(cè)儀器 低電阻測(cè)試儀
熔點(diǎn)測(cè)定儀
接線盒檢測(cè)儀器 引線端強(qiáng)度試驗(yàn)機(jī)
硅膠檢測(cè)儀器 邵氏硬度計(jì)
環(huán)境試驗(yàn)箱 鹽水噴霧試驗(yàn)機(jī)
氙燈耐氣候試驗(yàn)箱
恒溫恒濕試驗(yàn)機(jī)
紫外光老化試驗(yàn)機(jī)伏太陽(yáng)能系統(tǒng) 測(cè)試方案
測(cè)試范圍 測(cè)試儀器 測(cè)試指標(biāo)
TPT(PVF)，EVA(PVB)樹(shù)脂檢測(cè) 抗劃傷試驗(yàn)機(jī)透氣/透濕性測(cè)試儀電荷測(cè)量?jī)x(無(wú)線電干涉儀)EVA交聯(lián)度測(cè)試系統(tǒng)剝離強(qiáng)度試驗(yàn)機(jī)表面張力儀 檢測(cè)樹(shù)脂材料的可靠性
絨面鋼化玻璃檢測(cè) 透光率/霧度測(cè)定儀彎曲度測(cè)試儀落球沖擊試驗(yàn)機(jī)霰彈撞擊試驗(yàn)機(jī)應(yīng)力測(cè)量?jī)x 檢測(cè)鋼化玻璃的可靠性
密封硅膠檢測(cè) 邵氏硬度計(jì)萬(wàn)能材料試驗(yàn)機(jī)擠出性試驗(yàn)裝置 檢測(cè)密封部位的可靠性
組件接線盒檢測(cè) 可程式恒溫恒濕試驗(yàn)機(jī)鹽霧腐蝕試驗(yàn)箱可接觸性試驗(yàn)指噴淋裝置 檢測(cè)連接部位可靠性
材料試驗(yàn) 跌落試驗(yàn)機(jī)RCA紙帶耐磨試驗(yàn)機(jī)TABER耐磨試驗(yàn)機(jī)拉壓力試驗(yàn)機(jī)電磁振動(dòng)試驗(yàn)機(jī)萬(wàn)能材料試驗(yàn)機(jī) 檢測(cè)機(jī)械特性
光伏組件檢測(cè) 外觀目測(cè)系列儀器戶外曝曬架
I-V曲線測(cè)試儀 檢測(cè)電路板電路性能
熱循環(huán)-濕熱-濕凍試驗(yàn)機(jī)濕漏電流測(cè)試系統(tǒng)及噴淋裝置機(jī)械載荷試驗(yàn)機(jī)冰雹撞擊試驗(yàn)機(jī)
脈沖太陽(yáng)模擬器 單體電池和小尺寸組件的測(cè)試
穩(wěn)態(tài)太陽(yáng)模擬器(熱斑耐久/光老練試驗(yàn)機(jī)) 大尺寸組件的測(cè)試.被測(cè)電池?zé)彷斎肟梢院雎?
紫外預(yù)處理試驗(yàn)機(jī)
輻照度儀,日照強(qiáng)度計(jì) 積分式照度，發(fā)光強(qiáng)度測(cè)量
鹽霧腐蝕試驗(yàn)箱
★鋁合金框檢測(cè) 原子吸收光譜儀紫外可見(jiàn)分光光度計(jì) 將成分復(fù)雜的光分解為光譜線，檢測(cè)多種微量金屬元素
分光束顯微鏡
色度色差儀 三刺激值、色品坐標(biāo)、主波長(zhǎng)及色差值,用于測(cè)色、配色和顏色的比較。
鹽霧腐蝕試驗(yàn)機(jī)(CASS試驗(yàn))TABER耐磨試驗(yàn)機(jī)
★涂錫焊帶檢測(cè) 原子吸收光譜儀
低電阻測(cè)試儀 用于變壓器、電機(jī)線包繞組，電感線圈的直流電阻的測(cè)試，繼電器、開(kāi)關(guān)、接插件的接觸電阻測(cè)量導(dǎo)線電阻、元器件焊點(diǎn)的接觸電阻，印制板銅箔線條及焊孔電阻等各種導(dǎo)體的微小電阻值的測(cè)量。
萬(wàn)能材料試驗(yàn)機(jī)熔點(diǎn)測(cè)定儀
★硅電池檢測(cè) 表面輪廓儀 測(cè)量各種精密機(jī)械零件的素線形狀，直線度、角度、凸度、輪廓度、傾斜度、平行度、對(duì)數(shù)曲線、槽深、槽寬、溝曲率半徑、溝邊距、溝心距等參數(shù)。
單晶少子壽命測(cè)試儀 測(cè)量單晶硅少數(shù)載流子壽命。
電阻率儀
紅外成像儀 測(cè)試組件發(fā)熱情況，測(cè)隱性裂紋，測(cè)量玻璃表面溫度，電池顏色及表面和背面印刷瑕疵，突起、凹陷；破片率。
等離子體質(zhì)譜儀 應(yīng)用于醫(yī)藥、環(huán)保、食品、生物、冶金等領(lǐng)域的微量元素，稀土元素、重金屬元素等的分析
標(biāo)準(zhǔn)電池電池片(脈沖)太陽(yáng)模擬器
I-V曲線測(cè)試儀 測(cè)量Pmax, Imax, Vmax, Isc,Voc,FF,Eff,Rs,Rsh以及I-V曲線?？烧页鎏?yáng)能模組最大功率的工作點(diǎn) (Vmaxp, Imaxp) 量測(cè)最大功率時(shí) (Pmax) 的最大電壓 (Vmaxp) 最大電流 (Imaxp) 量測(cè)開(kāi)路電壓 (Vopen) 與短路電流 (Ishort) 移動(dòng)指標(biāo)可顯示I-V特性曲線每一點(diǎn)的特性值
高穩(wěn)定度，高精密電源
數(shù)據(jù)采集開(kāi)關(guān)單元
高精度數(shù)字萬(wàn)用表示波器 觀測(cè)電路各節(jié)點(diǎn)電壓信號(hào)
電子負(fù)載 檢測(cè)電池組件在室外真實(shí)自然條件下的實(shí)際效率，提供電池組件真實(shí)條件的轉(zhuǎn)換效率，還可以對(duì)長(zhǎng)期工作后電池組件的效率的變化進(jìn)行跟蹤，更換不良組件，提高發(fā)電效率。
★蓄電池檢測(cè) 電池測(cè)試儀 測(cè)電池容量，電阻、電流、電壓，內(nèi)阻，充電，放電性能
逆變器檢測(cè)儀控制器檢測(cè)儀太陽(yáng)能光伏系統(tǒng)檢測(cè)儀 模擬各種 RLC交流負(fù)載，模擬逆變器各類工作環(huán)境，可以精確檢測(cè)逆變器實(shí)際輸出功率與帶載能力，可以精確檢測(cè)調(diào)試光伏逆變器的諧振點(diǎn)，主機(jī)內(nèi)置有純阻性負(fù)載和感性負(fù)載，功率輸入采用分段式組合控制，可以任意組合各種功率輸入。
★原子吸收及樣品制備系統(tǒng) 微波消解樣品制備系統(tǒng)高頻紅外碳硫分析儀原子熒光分光光度計(jì)CAAM-2001原子吸收光譜儀
紫外可見(jiàn)分光光度計(jì) 評(píng)價(jià)電池表面的反射性能和透射性能，以降低反射，透射。
積分球 用來(lái)收集從固體表面（例如光電池）反射出來(lái)的光（包括漫反射或者全反射），應(yīng)用相應(yīng)的樣品固定附件，也可以用來(lái)測(cè)定太陽(yáng)能電池材料的透射性能。
光譜分析 SensAA系列原子吸收光譜儀Avanta系列原子吸收光譜儀Cintra系列紫外分光光度計(jì) 太陽(yáng)能電池光譜響應(yīng)測(cè)試，或稱量子效率QE測(cè)試，或光電轉(zhuǎn)化效率測(cè)試等，測(cè)量不同波長(zhǎng)光照條件下的光電轉(zhuǎn)換特性，對(duì)提高太陽(yáng)能電池的生產(chǎn)工藝水平（例如制絨、擴(kuò)散、背場(chǎng)等工藝）、判斷硅片材料質(zhì)量以及研究電池片的性能有重要的參考價(jià)值。
環(huán)境試驗(yàn) 冷卻水循環(huán)系統(tǒng)可程式恒溫恒濕試驗(yàn)機(jī)鹽水噴霧試驗(yàn)機(jī)氙燈耐氣候試驗(yàn)箱紫外光老化試驗(yàn)機(jī) 模擬各種自然環(huán)境，如溫度變化，濕度變化，及各種惡劣環(huán)境以確認(rèn)太陽(yáng)能電池能夠承受環(huán)境變化，避免由此引起的疲勞和失效。
整機(jī)測(cè)試 電源高精度數(shù)字萬(wàn)用表電子負(fù)載
靜電放電測(cè)試儀耐壓絕緣泄漏測(cè)試儀 安全規(guī)范測(cè)試
電磁干擾(EMI) 測(cè)試儀電磁抗擾度(EMS) 測(cè)試儀 設(shè)備或系統(tǒng)在其電磁環(huán)境中能正常工作且不對(duì)該環(huán)境中任何事物構(gòu)成不能承受的電磁騷擾。關(guān)于更多EVA交聯(lián)度測(cè)試儀請(qǐng)?jiān)L問(wèn)公司主頁(yè)
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Mol試電路圖脈沖(方法A)或斬切(方法B)光源，光源須在光強(qiáng)從最大值減小到其10%時(shí)關(guān)斷，或關(guān)斷時(shí)間小于， 門產(chǎn)a c。測(cè)試樣壽命時(shí)間的1/5或更少。用于硅試樣測(cè)量的光源光譜分布的最大值應(yīng)在波長(zhǎng)范圍1. 0-1.1 p m以內(nèi)。
8.2.1 方法A- Al閃光管或放電管，配備。01 fF的電容器U及可提供頻率為2-60 Hz脈沖的高壓電源光源應(yīng)在。3k s內(nèi)達(dá)到最大光強(qiáng)，并在小于。.5 k s內(nèi)光強(qiáng)由最大值下降不大于5% 采用更小的電容可獲得更短的脈沖寬度，適合測(cè)量表觀壽命低于5ks的試樣
8.2.2 方法B- 脈沖發(fā)生器光源，用以產(chǎn)生周期性方波光脈沖，脈沖幅度、高度和間隔應(yīng)單獨(dú)可調(diào)，脈沖寬度和間隔的可調(diào)范圍最少應(yīng)在5-20 lxs之間，光源最高輻射能應(yīng)足夠大，測(cè)量信號(hào)最小不低于1 mV;光脈沖上升沿和下降沿兩個(gè)時(shí)間系數(shù)均應(yīng)小于被測(cè)最低表觀壽命值的1/5。脈沖發(fā)生器還應(yīng)為信號(hào)調(diào)節(jié)器和示波器提供觸發(fā)信號(hào)。
注: 具 有 所提供特性的光源是一個(gè)發(fā)光二極管(LED)，其關(guān)斷時(shí)間約為。.1 ,p 此外，用機(jī)械轉(zhuǎn)動(dòng)法把光斬切為頻率 15 H z ,4 5H z 或 77H :的A6 -V, 8- A鎢帶狀燈絲燈，適用于表觀壽命不小干5J..,的測(cè)量。
83 電源
電源 應(yīng) 穩(wěn) 定并經(jīng)過(guò)良好濾波，應(yīng)在試樣上產(chǎn)生不低于5V的直流電壓。電路中的串聯(lián)電阻R,值至少是試樣電阻R及接觸電阻R。之和的2。倍，電路中還應(yīng)有對(duì)試樣電流換向及切斷電流的開(kāi)關(guān)裝置
8.4 試樣夾具及恒溫器
隔熱 試 樣 夾具及恒溫器應(yīng)使試樣處于規(guī)定溫度27士1七，夾具與試樣的整個(gè)端面應(yīng)保持歐姆接觸.
并至少應(yīng)使試樣四個(gè)側(cè)面中的一個(gè)側(cè)面處于光照下注 制 作 與試樣端面成歐姆接觸的試樣夾具的方法較多，建議使用金屬帶或纖維的壓力接觸，也可用厚鉛板或im板
8.5 濾光片
濾光 片 應(yīng) 雙面拋光，由與試樣相同的材料制成.厚度為1m m，直接放置在矩形窗孔膜片的上方(僅用于方法A，見(jiàn)8.5)
86 矩形窗孔膜片放置 于 靠 近試樣的光照表面，光透過(guò)矩形窗孔膜片，只能照射到試樣的部分區(qū)域?qū)Ψ椒ˋ，光照區(qū)域是長(zhǎng)度L,=L%2寬度W;= W/ 2;對(duì)方法B，光照區(qū)域是長(zhǎng)度L;=3.。士。.1 m m,寬度W二W 兩種方光 照 部 位都在試樣中央位置
8，7 電信號(hào)測(cè)量線路
8.了.1 前置放大器— 具有可調(diào)的高、低頻頻帶范圍.低頻截止頻率從。.3 H- 30 Hz可調(diào)。
8.了.2 信號(hào)調(diào)節(jié)器— 脈沖取樣均衡器或波形整形器，用于改善小信號(hào)時(shí)的信噪比僅用于方法B為保證小注入條件而減少光照時(shí)采用。
8.7.3 示波器— 具有合適的時(shí)間掃描和信號(hào)靈敏度及經(jīng)校準(zhǔn)的時(shí)間基線，其精度和線性度都優(yōu)于3%，并能被試驗(yàn)信號(hào)或外部信號(hào)觸發(fā)，還應(yīng)配備有助于分析衰減曲線的透明屏幕，其要求如下
a) 對(duì) 方 法A,規(guī)定屏幕尺寸在10cmx10cm以內(nèi)一該尺寸有利于減小視差。
4 對(duì)電路總體要求:
a)校正垂直掃描靈敏度至。.1 mv/cm或更好;
b)校正垂直增益和掃描線性度在3%以內(nèi);
c)響應(yīng)時(shí)間輸人信號(hào)以步進(jìn)方式變化時(shí)，輸出信號(hào)的衰減不超過(guò)所測(cè)最小表觀壽命值的1/5
d)脈沖沒(méi)有明顯的變壞現(xiàn)象，如過(guò)沖或阻尼效應(yīng)。
研 磨設(shè)備
8.9
8.10
能把試樣的所有表面加工成光滑、平整的表面。
清洗和干燥設(shè)備
可用水沖洗或超聲清洗。干燥設(shè)備提供干燥氮?dú)獯蹈稍嚇印?br /> 試樣 尺寸測(cè)量工具
精度為。.01 m m的千分尺或游標(biāo)卡尺。
9.1
試樣制備
從晶 體上指定區(qū)域切取試樣，長(zhǎng)度為L(zhǎng),厚度為T.寬度為W，如表1所示對(duì)方法B,推薦使用尺
寸類型B和類型C,測(cè)量、記錄所有尺寸，精確到0.1 m m}
注 :較 低 壽命值的材料側(cè)量宜使用較小尺寸的試樣直拉硅單晶的側(cè)量大都使用類型 B,而區(qū)熔硅單晶的測(cè) WE建議
采 用類 型 C。
9.2 測(cè)量前，用氧化鋁粉研磨試樣使試樣的六個(gè)表面成為平整的磨面
9.3 將研磨后的試樣用超聲情洗或用水沖洗，用干燥氮?dú)獯蹈稍嚇佣嗣鎽?yīng)清潔于凈.有利形成;e% 1`t
歐姆接觸
9.4 在試樣的兩個(gè)整個(gè)端面上制作歐姆接觸
注 推 薦 在鍺試樣的端面鍍鎳、鍺或金，鍍膜過(guò)程中應(yīng)避免銅沾污;對(duì)硅試樣最好辦法是把試樣加熱到as(. ('i}研
磨端 面 ， 防 止滴 在 金 剛砂布上的稼形成錦污點(diǎn)也可在n型硅試樣端面鍍鎳，在pttj硅試樣端面鍍銘-
9.5 如果試樣導(dǎo)電類型是未知的，可按GB/T 1550測(cè)定
9.6 測(cè)試接觸點(diǎn):
9.6.1 將試樣置于夾具中，以一個(gè)方向接通電流，在試樣上形成2--5 V的電壓，記錄該電壓降10
9.6.2 改變電流方向.記錄試樣r.電壓降V,
9.6.3 如果v一與v 的差小于5寫，則試樣具有歐姆接觸
9.7 按GB/T 1551測(cè)量和記錄并修正其至27 C時(shí)的電阻率
10 測(cè)量步驟
10.1 方法A一一脈沖光方法
10.11 用試樣夾具夾緊試樣，定位于膜片的矩形窗孔處.使試樣的中央處于光照F.,測(cè)量并記錄試祥
夾具的溫度，取值士1C
10.1.2 開(kāi)啟光源，將前置放大器與示波器接通
10,1.3 接通電源，調(diào)整電流，在試樣上產(chǎn)生2一5V電壓。
怕.1.4 使觀察到的衰減曲線與畫在示波器透明屏上的標(biāo)準(zhǔn)指數(shù)曲線一致(見(jiàn)8.7.3,)).方法如F
a) 調(diào) 節(jié)垂 直位移旋鈕，使觀察到的衰減曲線的基線與標(biāo)準(zhǔn)指數(shù)曲線的基線重合調(diào)節(jié)時(shí)間基準(zhǔn)掃
描速度于一較低值，使屏幕橫向上出現(xiàn)多個(gè)衰減曲線，以易于調(diào)節(jié)
b) 延 長(zhǎng) 時(shí)間基準(zhǔn)以產(chǎn)生一個(gè)單周期信號(hào)圖樣，調(diào)節(jié)水平位移、垂直放大和時(shí)間基準(zhǔn)掃描速度，直到
觀察到的曲線與標(biāo)準(zhǔn)指數(shù)曲線盡可能吻合，脈沖峰值△V,與標(biāo)準(zhǔn)曲線左邊L方點(diǎn)致
10-1.5 側(cè)試試徉是否存在光生伏特效應(yīng):關(guān)斷電流，保留光照，其他旋鈕不動(dòng)，觀察示波器是否檢測(cè)到
一個(gè) 光電壓信號(hào)如果檢測(cè)到一個(gè)超過(guò)脈沖峰值1%的信號(hào)，則試樣中存在光生伏特效應(yīng).該試樣不適
合用 本方法測(cè)量
10-1.6 若未觀察到上述光電壓信號(hào)且衰減曲線呈純指數(shù)曲線，則可由(3)式確定表觀壽命rFC}s );
7r = 2. 5 ·S , ··· ·· ··· ··· ·· ·· ··· ··· ·? ? ( 3 、
式中:S,-一時(shí)間基準(zhǔn)掃描速度，Ks/c mo
10.17 若示波器時(shí)間基準(zhǔn)未經(jīng)校準(zhǔn)，則標(biāo)準(zhǔn)指數(shù)曲線不適用，表觀壽命可如下確定:旋轉(zhuǎn)時(shí)間基準(zhǔn)掃
描速度至一合適分度值S,(Ps/cm),測(cè)量衰減曲線t任意兩點(diǎn)間幅度比為2: 7 的水平距離M(cm),由
(仲 式計(jì)算TF
介 一 1. 4 411 俗 ·· ··· ··· ··· ··· ··· ··· ··· ·? ? ( 4 )
當(dāng)不 其 備 屏 幕 標(biāo)準(zhǔn)曲線(見(jiàn)8.7. 3a ))時(shí)，也可用該步驟
10. 1.8 當(dāng)觀察到的屏幕衰減曲線呈非純指數(shù)曲線但接近t"純指數(shù)曲線時(shí)，表觀壽命可由曲線低端的
幾對(duì) 點(diǎn)確定
a) 若 試 樣 的 一半或少于一半的寬度已受光照，表觀壽命從信號(hào)衰減到其峰值的60/以后的曲線部
分來(lái) 測(cè)定;
b) 若 試 樣 一半 以t的寬度已受光照，表觀壽命從信號(hào)衰減到其峰值的25%以后的曲線部分來(lái)測(cè)
定 :
。〕 L 述 兩 種 情況都要增加垂直增益以延長(zhǎng)衰減曲線使指定部分達(dá)到屏幕垂直滿刻度，調(diào)節(jié)時(shí)問(wèn)
縫準(zhǔn) 掃描到一合適分度值S2(ks/cm)，使衰減曲線的指定部分盡可能達(dá)到屏幕水平滿ail度，測(cè)峨曲線t
幅度 比為2:1的任意兩點(diǎn)間水平距離M(cm),由(5)式計(jì)算表觀壽命:
TF.、 一 1 .4 4M S ,. ·
重復(fù) 卜述 過(guò)程兩遍以卜，得到=F=,=Fs等;
d) 確 定 和記錄平均表觀壽命:F，即rF，的平均值。若rp;之問(wèn)差值超過(guò)切% 則該試樣不適合用術(shù)方
法測(cè)址
l: 特 別 是在p型硅的情況卜壽命隨載流子濃度雨數(shù)變化非常迅速，在寬范圍內(nèi)取得的平均仇生的1吳差可能很
大
10門9 試樣是否存在陷阱效應(yīng)由表觀壽命值的變化來(lái)確定。諸壽命值從小J幾衰減曲線峰值(}L'>)的
25%的曲線部分來(lái)測(cè)定。若壽命值在沿曲線更低處測(cè)量時(shí)反而增加，則存在陷阱把試樣加熱到5。嚴(yán)-
刊C或用一穩(wěn)定的本底光照射試樣，可消除陷阱效應(yīng)若陷阱的影響超過(guò)曲線總幅度的5%，則該試桿
不適于用本方法測(cè)量。
10.1門0 檢查是否滿足掃出條件
a) 關(guān) 斷 光源，測(cè)量試樣上直流電壓V,;
b) 計(jì) 算 V*與:r的積，若乘積不大于表4給出的對(duì)應(yīng)常數(shù)，則滿足掃出條件，即掃出效應(yīng)不顯著，進(jìn)
行10. 1. 11操作;
c) 表 4 給出的常數(shù)，僅用于推薦長(zhǎng)度的試樣，其他長(zhǎng)度的試樣，其條件由(6)式給出:
Va c· r, 毛 3 0L /p
式中:1.— 試樣長(zhǎng)度·mm;
k— 少 數(shù)載 流 子遷移率，cm,/V ·s(見(jiàn)表4);
rF— 表 觀壽命，has
d) 若 不 滿足掃出條件，可降低試樣電流來(lái)減小V, 這將會(huì)改變曲線形狀.1F值也將發(fā)生變化
。) 重 復(fù)從 10.1.4- 10.1.10d)的操作，直至:F值是一個(gè)常數(shù)且滿足掃出條件。
表 4 少 數(shù) 載 流 子 遷 移 率 與 方 法 A推薦試樣長(zhǎng)度對(duì)應(yīng)的掃出條件常數(shù)
材料遷移率,cm'/V.; 類型A 類型B和C
p型鍺
n型鍺
p型硅
n型硅
7.3
飛1
12
2眨)
12
土8
藝O
只只
0 0 0 0
8 8 魂47
10.1.11
10. 1.11.1
10. 1.11. 2
10.1.11. 3
檢查是否滿足小注入條件
用與 滿足掃出條件相同的電流值.開(kāi)啟光源.測(cè)量脈沖峰值,w
若 △叭/叭鎮(zhèn)0.01，則滿足小注入條件.進(jìn)行“計(jì)算”.
若 △vo/v,>0.01，則按(7)式修正表觀壽命
10.1IT.f
二T'.-,C1 一(AVIly )〕
(6)
門
習(xí)
(7)
式中:r曰〕肥肥— 飛。.1.6中測(cè)量或
表觀壽命修正值
7中計(jì)算的表觀壽命值;
10.2
10.2.1
溫度
10-2.2
10.2.3
方法is一一斬切光方法
用夾 具夾緊試樣于定位膜片矩形窗孔處，使試樣中央位置處于光照「.測(cè)量并記錄試樣夾具的
開(kāi)啟光源連接前置放大器與示波器
接通電源并調(diào)節(jié)電流，使試樣上產(chǎn)生2---5 v電壓，調(diào)節(jié)脈沖幅度、示波器垂直增益及掃描速度
旋鈕，使示波器上出現(xiàn)幾個(gè)單周期信號(hào)。
10-2.4 調(diào)節(jié)脈沖寬度，使脈沖幅度達(dá)到飽和值△v 在脈沖關(guān)斷之前同時(shí)調(diào)節(jié)脈沖截止時(shí)間.使信勺
到達(dá)兩個(gè)脈沖間的基線(直流電壓值)
10.2. 5 調(diào)節(jié)T波器掃描速度旋鈕、電流及脈沖幅度，使示波器屏幕上出現(xiàn)的單周期信號(hào)圖形具了聲洲檢測(cè)對(duì)象 儀器名稱
光伏組件 絕緣耐壓測(cè)試儀
熱循環(huán)-濕熱-濕凍試驗(yàn)機(jī)
機(jī)械載荷試驗(yàn)機(jī)
冰雹撞擊試驗(yàn)機(jī)
紫外預(yù)處理試驗(yàn)機(jī)
鹽霧腐蝕試驗(yàn)箱
熱斑耐久/光老練/預(yù)衰減試驗(yàn)機(jī)
EVA檢測(cè)儀器 EVA交聯(lián)度測(cè)試系統(tǒng)
剝離強(qiáng)度試驗(yàn)機(jī)
表面張力儀
EVA封裝模
TPT檢測(cè)儀器 抗劃傷試驗(yàn)機(jī)
透氣/透濕性測(cè)試儀
電荷測(cè)量?jī)x
絨面鋼化玻璃檢測(cè)儀器 透光率/霧度測(cè)定儀
彎曲度測(cè)試儀
落球沖擊試驗(yàn)機(jī)
應(yīng)力測(cè)試儀
霰彈撞擊試驗(yàn)機(jī)
涂錫焊帶檢測(cè)儀器 低電阻測(cè)試儀
熔點(diǎn)測(cè)定儀
接線盒檢測(cè)儀器 引線端強(qiáng)度試驗(yàn)機(jī)
硅膠檢測(cè)儀器 邵氏硬度計(jì)
環(huán)境試驗(yàn)箱 鹽水噴霧試驗(yàn)機(jī)
氙燈耐氣候試驗(yàn)箱
恒溫恒濕試驗(yàn)機(jī)
紫外光老化試驗(yàn)機(jī)伏太陽(yáng)能系統(tǒng) 測(cè)試方案
測(cè)試范圍 測(cè)試儀器 測(cè)試指標(biāo)
TPT(PVF)，EVA(PVB)樹(shù)脂檢測(cè) 抗劃傷試驗(yàn)機(jī)透氣/透濕性測(cè)試儀電荷測(cè)量?jī)x(無(wú)線電干涉儀)EVA交聯(lián)度測(cè)試系統(tǒng)剝離強(qiáng)度試驗(yàn)機(jī)表面張力儀 檢測(cè)樹(shù)脂材料的可靠性
絨面鋼化玻璃檢測(cè) 透光率/霧度測(cè)定儀彎曲度測(cè)試儀落球沖擊試驗(yàn)機(jī)霰彈撞擊試驗(yàn)機(jī)應(yīng)力測(cè)量?jī)x 檢測(cè)鋼化玻璃的可靠性
密封硅膠檢測(cè) 邵氏硬度計(jì)萬(wàn)能材料試驗(yàn)機(jī)擠出性試驗(yàn)裝置 檢測(cè)密封部位的可靠性
組件接線盒檢測(cè) 可程式恒溫恒濕試驗(yàn)機(jī)鹽霧腐蝕試驗(yàn)箱可接觸性試驗(yàn)指噴淋裝置 檢測(cè)連接部位可靠性
材料試驗(yàn) 跌落試驗(yàn)機(jī)RCA紙帶耐磨試驗(yàn)機(jī)TABER耐磨試驗(yàn)機(jī)拉壓力試驗(yàn)機(jī)電磁振動(dòng)試驗(yàn)機(jī)萬(wàn)能材料試驗(yàn)機(jī) 檢測(cè)機(jī)械特性
光伏組件檢測(cè) 外觀目測(cè)系列儀器戶外曝曬架
I-V曲線測(cè)試儀 檢測(cè)電路板電路性能
熱循環(huán)-濕熱-濕凍試驗(yàn)機(jī)濕漏電流測(cè)試系統(tǒng)及噴淋裝置機(jī)械載荷試驗(yàn)機(jī)冰雹撞擊試驗(yàn)機(jī)
脈沖太陽(yáng)模擬器 單體電池和小尺寸組件的測(cè)試
穩(wěn)態(tài)太陽(yáng)模擬器(熱斑耐久/光老練試驗(yàn)機(jī)) 大尺寸組件的測(cè)試.被測(cè)電池?zé)彷斎肟梢院雎?
紫外預(yù)處理試驗(yàn)機(jī)
輻照度儀,日照強(qiáng)度計(jì) 積分式照度，發(fā)光強(qiáng)度測(cè)量
鹽霧腐蝕試驗(yàn)箱
★鋁合金框檢測(cè) 原子吸收光譜儀紫外可見(jiàn)分光光度計(jì) 將成分復(fù)雜的光分解為光譜線，檢測(cè)多種微量金屬元素
分光束顯微鏡
色度色差儀 三刺激值、色品坐標(biāo)、主波長(zhǎng)及色差值,用于測(cè)色、配色和顏色的比較。
鹽霧腐蝕試驗(yàn)機(jī)(CASS試驗(yàn))TABER耐磨試驗(yàn)機(jī)
★涂錫焊帶檢測(cè) 原子吸收光譜儀
低電阻測(cè)試儀 用于變壓器、電機(jī)線包繞組，電感線圈的直流電阻的測(cè)試，繼電器、開(kāi)關(guān)、接插件的接觸電阻測(cè)量導(dǎo)線電阻、元器件焊點(diǎn)的接觸電阻，印制板銅箔線條及焊孔電阻等各種導(dǎo)體的微小電阻值的測(cè)量。
萬(wàn)能材料試驗(yàn)機(jī)熔點(diǎn)測(cè)定儀
★硅電池檢測(cè) 表面輪廓儀 測(cè)量各種精密機(jī)械零件的素線形狀，直線度、角度、凸度、輪廓度、傾斜度、平行度、對(duì)數(shù)曲線、槽深、槽寬、溝曲率半徑、溝邊距、溝心距等參數(shù)。
單晶少子壽命測(cè)試儀 測(cè)量單晶硅少數(shù)載流子壽命。
電阻率儀
紅外成像儀 測(cè)試組件發(fā)熱情況，測(cè)隱性裂紋，測(cè)量玻璃表面溫度，電池顏色及表面和背面印刷瑕疵，突起、凹陷；破片率。
等離子體質(zhì)譜儀 應(yīng)用于醫(yī)藥、環(huán)保、食品、生物、冶金等領(lǐng)域的微量元素，稀土元素、重金屬元素等的分析
標(biāo)準(zhǔn)電池電池片(脈沖)太陽(yáng)模擬器
I-V曲線測(cè)試儀 測(cè)量Pmax, Imax, Vmax, Isc,Voc,FF,Eff,Rs,Rsh以及I-V曲線?？烧页鎏?yáng)能模組最大功率的工作點(diǎn) (Vmaxp, Imaxp) 量測(cè)最大功率時(shí) (Pmax) 的最大電壓 (Vmaxp) 最大電流 (Imaxp) 量測(cè)開(kāi)路電壓 (Vopen) 與短路電流 (Ishort) 移動(dòng)指標(biāo)可顯示I-V特性曲線每一點(diǎn)的特性值
高穩(wěn)定度，高精密電源
數(shù)據(jù)采集開(kāi)關(guān)單元
高精度數(shù)字萬(wàn)用表示波器 觀測(cè)電路各節(jié)點(diǎn)電壓信號(hào)
電子負(fù)載 檢測(cè)電池組件在室外真實(shí)自然條件下的實(shí)際效率，提供電池組件真實(shí)條件的轉(zhuǎn)換效率，還可以對(duì)長(zhǎng)期工作后電池組件的效率的變化進(jìn)行跟蹤，更換不良組件，提高發(fā)電效率。
★蓄電池檢測(cè) 電池測(cè)試儀 測(cè)電池容量，電阻、電流、電壓，內(nèi)阻，充電，放電性能
逆變器檢測(cè)儀控制器檢測(cè)儀太陽(yáng)能光伏系統(tǒng)檢測(cè)儀 模擬各種 RLC交流負(fù)載，模擬逆變器各類工作環(huán)境，可以精確檢測(cè)逆變器實(shí)際輸出功率與帶載能力，可以精確檢測(cè)調(diào)試光伏逆變器的諧振點(diǎn)，主機(jī)內(nèi)置有純阻性負(fù)載和感性負(fù)載，功率輸入采用分段式組合控制，可以任意組合各種功率輸入。
★原子吸收及樣品制備系統(tǒng) 微波消解樣品制備系統(tǒng)高頻紅外碳硫分析儀原子熒光分光光度計(jì)CAAM-2001原子吸收光譜儀
紫外可見(jiàn)分光光度計(jì) 評(píng)價(jià)電池表面的反射性能和透射性能，以降低反射，透射。
積分球 用來(lái)收集從固體表面（例如光電池）反射出來(lái)的光（包括漫反射或者全反射），應(yīng)用相應(yīng)的樣品固定附件，也可以用來(lái)測(cè)定太陽(yáng)能電池材料的透射性能。
光譜分析 SensAA系列原子吸收光譜儀Avanta系列原子吸收光譜儀Cintra系列紫外分光光度計(jì) 太陽(yáng)能電池光譜響應(yīng)測(cè)試，或稱量子效率QE測(cè)試，或光電轉(zhuǎn)化效率測(cè)試等，測(cè)量不同波長(zhǎng)光照條件下的光電轉(zhuǎn)換特性，對(duì)提高太陽(yáng)能電池的生產(chǎn)工藝水平（例如制絨、擴(kuò)散、背場(chǎng)等工藝）、判斷硅片材料質(zhì)量以及研究電池片的性能有重要的參考價(jià)值。
環(huán)境試驗(yàn) 冷卻水循環(huán)系統(tǒng)可程式恒溫恒濕試驗(yàn)機(jī)鹽水噴霧試驗(yàn)機(jī)氙燈耐氣候試驗(yàn)箱紫外光老化試驗(yàn)機(jī) 模擬各種自然環(huán)境，如溫度變化，濕度變化，及各種惡劣環(huán)境以確認(rèn)太陽(yáng)能電池能夠承受環(huán)境變化，避免由此引起的疲勞和失效。
整機(jī)測(cè)試 電源高精度數(shù)字萬(wàn)用表電子負(fù)載
靜電放電測(cè)試儀耐壓絕緣泄漏測(cè)試儀 安全規(guī)范測(cè)試
電磁干擾(EMI) 測(cè)試儀電磁抗擾度(EMS) 測(cè)試儀 設(shè)備或系統(tǒng)在其電磁環(huán)境中能正常工作且不對(duì)該環(huán)境中任何事物構(gòu)成不能承受的電磁騷擾。關(guān)于更多EVA交聯(lián)度測(cè)試儀請(qǐng)?jiān)L問(wèn)公司主頁(yè)
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