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加快材料研究的突破性進(jìn)展，您的實(shí)驗(yàn)室需要一臺(tái)具備快速準(zhǔn)確分析大量材料微觀結(jié)構(gòu)的掃描電鏡。第六代 Phenom ProX 臺(tái)式掃描電鏡引入了全新一代操作系統(tǒng)，通過(guò)改進(jìn)光路設(shè)計(jì)，將分辨率提升到新高度。能譜操作界面與能譜算法進(jìn)一步升，易于操作，元素分析更快速。
研究樣品時(shí)，得到樣品的形貌信息只是解決了一半問(wèn)題。獲得樣品的元素組分信息往往也是非常必要的。借助全面集成、特殊設(shè)計(jì)的能譜探測(cè)器，飛納電鏡能譜一體機(jī) Phenom ProX 可以完善解決上述所有問(wèn)題。
能譜儀是一種基于樣品被電子束激發(fā)而產(chǎn)生 X 射線的分析儀器。Phenom 的能譜儀無(wú)論軟件、硬件都是完全集成設(shè)計(jì)在飛納電鏡能譜一體機(jī) Phenom ProX 系統(tǒng)中。
Element Identification (EID) 軟件可以使用戶(hù)實(shí)現(xiàn)多點(diǎn)分析，檢測(cè)樣品的元素組分。此外，該軟件還可以擴(kuò)展到元素分析線面掃（mapping）功能。分步操作界面可以幫助用戶(hù)更方便地收集、導(dǎo)出分析數(shù)據(jù)。
Phenom ProX 主要技術(shù)參數(shù)
| 電子放大 | 高 350,000 X |
| 分辨率 | 優(yōu)于 6 nm |
| 光學(xué)導(dǎo)航相機(jī) | 彩色 |
| 加速電壓 | 4.8 kV - 20.5 kV 連續(xù)可調(diào) |
| 真空模式 | 標(biāo)準(zhǔn)模式 降低荷電效應(yīng)模式 |
| 探測(cè)器 | 背散射電子探測(cè)器 |
| 樣品尺寸 | 大直徑 32 mm |
| 樣品高度 | 高 100 mm |