三維晶體晶面生長(zhǎng)動(dòng)力學(xué)測(cè)定儀可用于藥品、化學(xué)品、蛋白質(zhì)、農(nóng)藥、材料、食品和石油化學(xué)等領(lǐng)域的結(jié)晶過(guò)程,來(lái)研究冷卻、過(guò)飽和度、添加劑、雜質(zhì)、溶劑和pH值對(duì)晶體生長(zhǎng)行為的影響。它可以應(yīng)用于產(chǎn)品研究、開(kāi)發(fā)和制造的性能改進(jìn)中。本產(chǎn)品可得到晶面晶體生長(zhǎng)動(dòng)力學(xué),如每個(gè)晶面生長(zhǎng)速度(米/秒)和操作條件(如飽和度、添加劑、pH值)的函數(shù)關(guān)系,這是利用多維群體粒數(shù)衡算模型來(lái)建立結(jié)晶過(guò)程模型和優(yōu)化的基本信息。
技術(shù)指標(biāo):
測(cè)量范圍:幾微米到幾毫米(與鏡頭放大倍數(shù)、相機(jī)相關(guān))
測(cè)量方式:在線晶體形態(tài)、平均尺寸、顆粒大小分布
測(cè)量濃度:無(wú)特別限制
工作溫度:無(wú)特別限制
性能特征:
顆粒最小可以處理到2-5mm, 固體濃度達(dá)到50%以上(體積或質(zhì)量濃度),數(shù)據(jù)采集速度可在10~50張圖像/秒鐘,圖像處理包括重構(gòu)速率2張/秒。
兩相機(jī)采集圖像非同步誤差為零。
圖像處理誤差(例如把靠在一起的兩個(gè)晶體誤判為一個(gè)晶體)小于1/15(個(gè))。
可根據(jù)客戶需求進(jìn)行定制。