SMX-1000/SMX-1000L采用FPD(數(shù)字式平板檢出器)和密閉式微焦點(diǎn)X射線管球,可以得到?jīng)]有變形和重影的清晰的透視圖像。另外,設(shè)備操作軟件在指定檢查樣品種類(lèi)后就可自動(dòng)設(shè)定檢查條件,通過(guò)簡(jiǎn)單操作就可高效地完成作業(yè)。設(shè)備上的CCD相機(jī)可拍攝樣品實(shí)物圖片,從而實(shí)現(xiàn)導(dǎo)航功能、步進(jìn)功能、教學(xué)功能、圖像數(shù)據(jù)功能以及各種測(cè)量功能。
如果在設(shè)備上增加VCT組件(選購(gòu)件),還能夠輕而易舉地獲得CT圖像。 |
用途 SMX-1000/SMX-1000L能夠通過(guò)非破壞檢查方法對(duì)高密度實(shí)裝基板和BGA、CSP、系統(tǒng)LSI等超細(xì)微部分的結(jié)合狀態(tài)(斷路、短路)進(jìn)行高放大倍數(shù)透視檢查。 |
特點(diǎn) |
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主要規(guī)格 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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選購(gòu)件 |
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