法國Jobin Yvon NanoLog型近紅外熒光光譜儀專門為納米技術和納米材料前沿研究設計的，可以提供紅外熒光快速測量系統(tǒng)。其模塊化的配置和功能滿足您專一的和全面的要求。標準檢測器配置為800nm-1700nm的CCD，也可通過選取配置延伸至2200nm的紅外區(qū)和紫外、近紅外區(qū)。
儀器主要特點：
1、隨機配置的可更新單壁碳納米管數(shù)據(jù)庫提供半導體型SWCNTs的分類。
2、專利的表面三維數(shù)據(jù)擬合技術，提供樣品中單壁碳納米管的分類和含量比例；最新添加的可選Raman-NanoLog方案，可以在熒光測量同時獲得Raman信息。
3、可選的透射吸收附件，可用于吸光度測量，同時用于再吸收的校正。包括金屬型的SWCNT。
4、知名的NanoSizerTM軟件作為標準配置；
● PL mapping Characterization of SWCNTs
● Raman Characterization of SWCNTs
● Optical Absorption of SWCNTs