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inTEST ATS-545-M 高低溫測(cè)試機(jī) 熱流儀
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產(chǎn)品: 瀏覽次數(shù):356inTEST ATS-545-M 高低溫測(cè)試機(jī) 熱流儀 
品牌: inTEST
溫度范圍 °C: -80至+ 225°C
轉(zhuǎn)換速率: 加熱:-55至+ 125°C, <10秒 冷卻:+125至-55°C, <10秒
溫度精度: ±1℃
單價(jià): 1.00元/臺(tái)
最小起訂量: 1 臺(tái)
供貨總量: 1 臺(tái)
發(fā)貨期限: 自買家付款之日起 60 天內(nèi)發(fā)貨
有效期至: 長(zhǎng)期有效
最后更新: 2021-01-21 15:11
  詢價(jià)
詳細(xì)信息

上海伯東是美國 inTEST 高低溫測(cè)試機(jī)中國總代理, 全權(quán)負(fù)責(zé) inTEST 新品銷售和售后維修服務(wù).

Temptronic ThermoStream 高低溫測(cè)試機(jī) ATS-545-M 溫度范圍 -80至+ 225°C; 電源要求: 200-250 VAC(230V標(biāo)稱)50 / 60Hz 30 amp, 1phase

轉(zhuǎn)換速率: 

加熱:-55至+ 125°C, <10秒

冷卻:+125至-55°C, <10秒

inTEST 高低溫測(cè)試機(jī) ATS-545-M 在沒有液態(tài)氮?dú)?LN2或液態(tài)二氧化碳 LCO2的超低溫下進(jìn)行 MIL-STD 和商業(yè)測(cè)試.

inTEST Temptronic 超高速高低溫測(cè)試機(jī) 適用于電子元件、集成電路 IC、PCB 電路板的高低溫測(cè)試.


inTEST Temptronic 高低溫沖擊測(cè)試機(jī)功能優(yōu)點(diǎn):

1.與友廠對(duì)比, inTEST ThermoStream 獨(dú)有的專利自動(dòng)復(fù)疊式制冷系統(tǒng)(auto cascade refrigeration)保證低溫, 內(nèi)置 AC 交流壓縮機(jī), 冷凍機(jī)(Chiller)特殊設(shè)計(jì), 制冷劑不含氟利昂、安全無毒、不易燃, 有效保護(hù)環(huán)境;

2.專利 ESD 防靜電保護(hù)設(shè)計(jì)

3.旋鈕式控制面板, 支持測(cè)試數(shù)據(jù)存儲(chǔ)。

4.過熱溫度保護(hù): 出廠設(shè)置溫度 +230°C

5.加熱模式下, 冷凍機(jī)可切換成待機(jī)模式, 以減少電力消耗

6.干燥氣流持續(xù)吹掃測(cè)試表面, 防止水氣凝結(jié)

 

與傳統(tǒng)高低溫測(cè)試箱、溫濕度測(cè)試箱對(duì)比, inTEST ThermoStream 高低溫測(cè)試機(jī)主要優(yōu)勢(shì):

1、變溫速率更快

2、溫控精度: ±1℃

3、實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)待測(cè)元件真實(shí)溫度, 可隨時(shí)調(diào)整沖擊氣流溫度

4、針對(duì)PCB電路板上眾多元器件中的某一單個(gè)IC(模塊), 可單獨(dú)進(jìn)行高低溫沖擊, 而不影響周邊其它器件

5、對(duì)測(cè)試機(jī)平臺(tái)load board上的IC進(jìn)行溫度循環(huán) / 沖擊; 傳統(tǒng)高低溫箱無法針對(duì)此類測(cè)試

6、對(duì)整塊集成電路板提供精確且快速的環(huán)境溫度


inTEST ATS-545-M 高低溫測(cè)試機(jī)(替代 TPO4310,Thermonics T-2820) 技術(shù)參數(shù):

型號(hào)

溫度范圍 °C

* 變溫速率

輸出氣流量

溫度
精度

溫度顯示
分辨率

溫度
傳感器

ATS-545-M

-75 至 + 225(50 HZ)
-80 至 + 225(60 HZ)
不需要LN2或LCO2冷卻

-55至 +125°C
約 10 S 或更少
+125至 -55°C
約 10 S 或更少

4 至 18 scfm
1.9至 8.5 l/s

±1℃
通過美國NIST 校準(zhǔn)

±0.1℃

T或K型
熱電偶

 

* 一般測(cè)試環(huán)境下;變溫速率可調(diào)節(jié)

尺寸: 寬61.0 cm, 深 72.4 cm, 高 108 cm

重量:凈重 236 kg, 毛重 365 kg

 

尺寸

 

手臂延展最大 160 cm

標(biāo)準(zhǔn)最高操作高度 130.3 cm;(可選188 cm)

標(biāo)準(zhǔn)最低操作高度 69.1 cm;(可選81.3 cm)

噪音 < 65 dBA


測(cè)試方法:

提供兩種檢測(cè)模式 Air Mode 和 DUT Mode

通過熱流罩或測(cè)試腔將被測(cè) IC 與周邊環(huán)境隔離,然后對(duì) IC 循環(huán)噴射冷熱氣流,使IC 溫度短時(shí)間發(fā)生急劇變化,從而完成溫度循環(huán)和溫度沖擊的測(cè)試。


inTEST ATS-545-M 高低溫測(cè)試機(jī)應(yīng)用案例:

伯東 inTEST 高低溫沖擊測(cè)試機(jī) ATS-545用于芯片可靠性測(cè)試


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