上海伯東美國(guó) inTEST 高低溫測(cè)試機(jī) (熱流儀) ATS-710-M 溫度沖擊范圍: -80°C 至 +225°C;
溫度轉(zhuǎn)換速率:
加熱: -55至+ 125°C, <10秒
冷卻: +125至-55°C, <10秒
觸摸屏式控制面板, 防靜電設(shè)計(jì), 具備自動(dòng)除霜功能.
電源要求: 200-250 VAC(230V標(biāo)稱(chēng))50 / 60Hz 30 amp, 1phase
上海伯東美國(guó) inTEST 高低溫測(cè)試機(jī) (熱流儀) ATS-710-M 無(wú)需 LN2 或 LCO2 即可在低溫下進(jìn)行 MIL-STD 和商業(yè)測(cè)試.
上海伯東作為 inTEST 高低溫測(cè)試機(jī) (熱流儀) 中國(guó)總代理, 全權(quán)負(fù)責(zé) inTEST 產(chǎn)品銷(xiāo)售和售后維修服務(wù).
上海伯東美國(guó) inTEST 高低溫測(cè)試機(jī) (熱流儀) ATS-710-M 功能特點(diǎn):
1. 自動(dòng)升降溫: 冷凍機(jī)(Chiller)特殊設(shè)計(jì), 制冷劑不含氟利昂、安全無(wú)毒、不易燃, 有效保護(hù)環(huán)境;
2. 不需要液態(tài)氮?dú)猓↙N2)或液態(tài)二氧化碳(LCO2)冷卻
3. 預(yù)防結(jié)霜: 干燥氣流循環(huán)吹掃測(cè)試表面, 防止水汽凝結(jié)(氣體流量0.5至3scfm)
4. 自動(dòng)待機(jī): 空閑或加熱模式下, inTEST 高低溫測(cè)試機(jī)自動(dòng)減少能耗
5. 加熱除霜: 快速去除冷凍機(jī)內(nèi)部積聚的水汽
6. 觸摸屏幕控制面板: Windows® 系統(tǒng)
7. 溫度顯示精度: ±1℃(通過(guò)美國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)與技術(shù)研究院NIST校準(zhǔn))
8. 過(guò)熱溫度保護(hù): 出廠設(shè)置溫度 +230°C, 操作員可根據(jù)實(shí)際需要設(shè)置高低溫限制點(diǎn).
9. 支持 Ethernet, IEEE-488, RS232; 支持測(cè)試數(shù)據(jù)存儲(chǔ)
10. 配置 USB、鍵盤(pán)、鼠標(biāo)、打印機(jī)端口
11. 熱流罩提供局限性的溫度測(cè)試環(huán)境, 特別適合溫度沖擊測(cè)試; 專(zhuān)利設(shè)計(jì)防止水氣在 DUT 上凝結(jié)
與傳統(tǒng)高低溫測(cè)試箱、溫濕度測(cè)試箱對(duì)比, inTEST ThermoStream 高低溫測(cè)試機(jī) (熱流儀) 主要優(yōu)勢(shì):
1. 變溫速率更快
2. 溫控精度: ±1℃
3. 實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)待測(cè)元件真實(shí)溫度, 可隨時(shí)調(diào)整沖擊氣流溫度
4. 針對(duì)PCB電路板上眾多元器件中的某一單個(gè) IC (模塊), 可單獨(dú)進(jìn)行高低溫沖擊, 而不影響周邊其它器件
5. 對(duì)測(cè)試機(jī)平臺(tái) load board 上的 IC 進(jìn)行溫度循環(huán) / 沖擊; 傳統(tǒng)高低溫箱無(wú)法針對(duì)此類(lèi)測(cè)試.
6. 對(duì)整塊集成電路板提供精確且快速的環(huán)境溫度.
上海伯東美國(guó) inTEST 高低溫測(cè)試機(jī) (熱流儀) ATS-710-M 技術(shù)參數(shù):
型號(hào) |
溫度范圍 |
輸出 |
變溫速率 |
溫度 |
溫度顯示 |
溫度 |
遠(yuǎn)程 |
ATS-710-M |
-75至+225 50Hz |
4 至18 scfm |
-55至 +125°C 約 10 s |
±1℃ |
±0.1℃ |
T型或 |
IEEE 488 |
上海伯東美國(guó) inTEST 高低溫測(cè)試機(jī) ATS-710-M 尺寸及重量:
尺寸: 寬61.0 cm, 深 72.4 cm, 高 108 cm
重量:凈重 236 kg, 毛重 365 kg
上海伯東美國(guó) inTEST 高低溫測(cè)試機(jī) ATS-710-M (熱流儀) 配置包含:
1. 主機(jī) ATS-710-M
2. 4.5或5.5 英寸熱流罩
3. 耐高低溫專(zhuān)用密封墊
* 客戶(hù)可根據(jù)實(shí)際應(yīng)用選擇額外軟管和測(cè)試腔
1、光纖收發(fā)器高低溫測(cè)試:適用于40G/100G Transceiver
2、閃存高低溫測(cè)試:適用于Flash、EMMC